[实用新型]一种节省空间的高温反偏测试系统

说明书

本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种节省空间的高温反偏测试系统，其包括测试箱体、两个丝杠、安装板及测试主板，两个丝杠安装于测试箱体内且分别套装有螺母套，安装板水平固装于两个螺母套之间且安装板上设有横向透气孔，安装板上表面及下表面开设多个竖直散热孔，安装板上表面及下表面两侧分别设有滑槽，上表面滑槽内设有第一安装座，下表面滑槽内设有第二安装座，第一安装座、第二安装座上分别设有测试主板插座，测试主板插装于测试主板插座内，测试主板上设有多个测试插座。本实用新型提供的装置结构简单，双层测试系统并用一个安装板，且安装板位置可以调节。

技术领域

本实用新型涉及半导体测试技术领域，尤其涉及一种节省空间的高温反偏测试系统。

背景技术

半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料。半导体在集成电路、消费电子、通信系统、光伏发电、照明应用、大功率电源转换等领域已得到广泛应用。常见的半导体材料有硅、锗、砷化镓等，其在投入使用前需要用进行高温高湿反偏测试。高温反偏测试机是将被检测的二极管或其他元件，如VD或MOS，放置于高温测试箱内，使高温测试箱内的温度达到设定值，并给被测元件施加一定的反向直流电压，测试各元器件可靠性，同时检测高温漏电流、电压等参数。传统的高温反偏测试机都是设置一个安装座，将测试主板安装在安装座上，测试主板上设有多个测试工位，安装被测元件。一般的高温反偏测试机只能设置一层，测试主板，如需设置多层，则需要增加测试箱的体积，并且需要每层设置一个安装板，且安装板的位置不能随意调节。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供结构简单，双层测试系统并用一个安装板，且安装板位置可以调节的一种节省空间的高温反偏测试系统。

本实用新型是通过以下技术方案予以实现：

一种节省空间的高温反偏测试系统，其包括测试箱体、两个丝杠、安装板及测试主板，两个所述丝杠竖直转动的安装于测试箱体内，两个所述丝杠上分别套装有螺母套，所述安装板水平固定安装于两个螺母套之间且安装板上设有多个贯穿安装板的横向透气孔，安装板上表面及下表面分别开设有多个竖直散热孔分别与横向透气孔连通，安装板的上表面及下表面左右两侧分别设有滑槽，上表面的滑槽内滑动设有第一安装座，下表面的滑槽内滑动设有第二安装座，所述第一安装座、第二安装座上分别设有测试主板插座，所述测试主板插装于测试主板插座内，测试主板上设有多个测试插座。

优化的，安装板上表面及下表面的多个竖直散热孔错位设置。

优化的，两个所述丝杠分别由第一丝杠电机及第二丝杠电机驱动，且第一丝杠电机及第二丝杆电机由同一个开关控制启停。

进一步，测试箱体包括底板、顶板、三面围板及箱门，其中左侧或右侧的围板中部开设有通风孔，通风孔内侧安装有滑动盖板，通风孔外侧与冷风机出风口连通。

优化的，冷风机出风口处安装有过滤网板。

进一步，滑动盖板上固定安装有拉杆，拉杆的末端伸出测试箱。

本实用新型的有益效果

本实用新型所保护的一种节省空间的高温反偏测试系统，具有如下优点：结构简单，一个安装板可以安装两套测试系统，节省空间，且成本低，并且安装板的位置可以根据需要进行调节。

附图说明

图1为本实用新型主视结构示意图；

图中1.测试箱体，2.丝杠，3.螺母套，4.第一丝杠电机，5.冷风机,6.过滤网板,7.拉杆，8.滑动盖板，9.安装板,10.测试插座,11.测试主板,12.第二安装座,13.滑槽，14.第一安装座，15.横向透气孔，16.竖直散热孔，17.第二丝杠电机。

具体实施方式