[实用新型]一种压接测试装置和测试设备有效

专利信息
申请号: 202220684602.3 申请日: 2022-03-25
公开(公告)号: CN217007544U 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 吴露;刘权 申请(专利权)人: 武汉精毅通电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R1/02;G01R1/04
代理公司: 武汉东喻专利代理事务所(普通合伙) 42224 代理人: 方可
地址: 430205 湖北省武汉市东*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 装置 设备
【权利要求书】:

1.一种压接测试装置,其特征在于,所述压接测试装置包括治具(1)和测试台(2);

所述治具(1)包括载板(11)和用于压接导通产品的压接件(12),所述载板(11)的外边缘具有多个间隔布置的凹槽(111),所述压接件(12)位于所述载板(11)的一板面上;

所述测试台(2)上铰接有多个挂钩(21),多个所述挂钩(21)沿所述载板(11)周向间隔布置,各所述挂钩(21)的挂钩部(211)可活动地插装在相对应的所述凹槽(111)中,所述挂钩(21)的施力部(212)与所述测试台(2)通过弹性件(10)连接。

2.根据权利要求1所述的一种压接测试装置,其特征在于,各所述挂钩(21)的顶面均具有斜面(213),各所述斜面(213)从所述载板(11)边缘向所述载板(11)的中心的方向向靠近所述测试台(2)的方向延伸。

3.根据权利要求1所述的一种压接测试装置,其特征在于,所述压接测试装置还包括用于导通所述压接件(12)的信号发生器(22)。

4.根据权利要求3所述的一种压接测试装置,其特征在于,所述测试台(2)上插装有第一PCB板(23)和多个探针(24),多个所述探针(24)的底端与所述第一PCB板(23)、所述信号发生器(22)依次导通,且所述载板(11)的底面具有用于压接导通多个所述探针(24)顶端的第二PCB板(112),所述第二PCB板(112)与所述压接件(12)导通。

5.根据权利要求1所述的一种压接测试装置,其特征在于,所述载板(11)上具有LED灯(113),所述LED灯(113)朝向所述压接件(12)布置。

6.根据权利要求1所述的一种压接测试装置,其特征在于,所述压接测试装置还包括活动块(32),所述活动块(32)可活动地布置在所述载板(11) 上,以实现对所述压接件(12)中钩体(123)上方的阻挡限位。

7.根据权利要求1所述的一种压接测试装置,其特征在于,所述载板(11)上具有LED灯(113)和用于控制所述LED灯(113)开关的控制开关,所述压接测试装置还包括活动块(32),所述活动块(32)可活动地布置在所述载板(11)上,以实现对所述压接件(12)中钩体(123)上方的阻挡限位;

当所述活动块(32)活动至对所述钩体(123)上方阻挡限位时,所述控制开关被触发,并控制所述LED灯(113)关闭;反之,所述控制开关未被触发,并控制所述LED灯(113)开启。

8.根据权利要求7所述的一种压接测试装置,其特征在于,所述控制开关为微动开关,所述活动块(32)上具有触发所述微动开关的凸起。

9.根据权利要求7所述的一种压接测试装置,其特征在于,所述控制开关为磁性开关,所述活动块(32)上具有触发所述磁性开关的磁铁。

10.一种测试设备,其特征在于,所述测试设备包括如权利要求1-9任意一项所述的一种压接测试装置。

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