[实用新型]一种简易插入回波损耗测试装置

说明书

本实用新型公开了一种简易插入回波损耗测试装置，包括光源、双通道光功率计、2*2光分路器；光源的输出端与2*2光分路器输入端的一路进行连接，2*2光分路器输入端的另外一路与双通道光功率计2的第二通道连接；2*2光分路器3输出端的一路绕模固定，2*2光分路器3输出端的另外一路接入到双通道光功率2的第一通道。本实用新型的有益效果在于，提高了插入损耗和回波损耗的测试效率，减少了设备投入，降低了生产成本。

技术领域

本实用新型涉及光通信及系统领域，特别涉及光通信无源器件插入回波损耗的测试装置，具体是指一种简易插入回波损耗测试装置。

背景技术

插入损耗（IL）和回波损耗(RL)是光无源器件的关键指标，对于产品的测试设备要求较高。传统的测试方法包括插入损耗使用光功率计进行测试，回波损耗使用专用的回损仪进行测试，两个指标需要测试两次，效率低、人工成本高。同时由于为常规指标，因此需要设备数量多，设备投入量大。

发明内容

本实用的目的是克服了上述现有技术中的缺点，提供一种能够同时测试插入损耗和回波损耗的简易测试装置。本实用新型在原有产品设备上进行改造，可以同时测试插入损耗和回波损耗，提高生产效率，降低设备投入和生产成本，提高产品价格竞争力。

为了实现上述发明目的，本实用新型采用如下技术方案：

一种简易插入回波损耗测试装置，包括光源、双通道光功率计、2*2光分路器；光源的输出端与2*2光分路器输入端的一路进行连接，2*2光分路器输入端的另外一路与双通道光功率计2的第二通道连接；2*2光分路器3输出端的一路绕模固定，2*2光分路器3输出端的另外一路接入到双通道光功率2的第一通道。

作为优选方案，所述光源上采用单模光膜。

作为优选方案，所述双通道光功率计采用全波段1260~1650nm探测范围的探测器。

作为优选方案，所述2*2光分路器为正反向插入损耗3.5dB以下的熔融拉锥型光分路器。

作为优选方案，所述第一通道2-1显示值为插入损耗光功率值，第二通道2-2显示值为回波损耗光功率值。

作为优选方案，所述光源为单模光源、中心波长为1310nm或者1550nm。

本实用新型的有益效果在于，提高了插入损耗和回波损耗的测试效率，减少了设备投入，降低了生产成本。

附图说明

图1为本实用新型的测试示意图；

图2为本实用新型的插入损耗归零示意图。

图3为本实用新型的回波损耗归零示意图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步详细的说明。

一种简易插入回波损耗测试装置，包括光源1、双通道光功率计2、2*2光分路器3；光源1上采用单模光膜，双通道光功率计2采用全波段1260~1650nm探测范围的探测器，2*2光分路器3，选用性能优异的正反向插入损耗3.5dB以下的熔融拉锥型光分路器。

本实施例默认双通道光功率计2上第一通道2-1（CH1）用于测试插入损耗，第二通道2-2（CH2）用于测试回波损耗。

光源1的输出端与2*2光分路器3输入端的一路进行连接，2*2光分路器3输入端的另外一路与双通道光功率计2的第二通道2-2（CH2）连接；2*2光分路器3输出端的一路进行绕模固定，2*2光分路器3输出端的另外一路接入到双通道光功率2的第一通道2-1（CH1）。分别记录光功率值，第一通道2-1（CH1）显示值为插入损耗光功率值，第二通道2-2（CH2）显示值为回波损耗光功率值。

以1分4光分路器的插入损耗和回波损耗测试为例，说明如下：