[实用新型]一种电机性能综合检测电路及装置

说明书

本实用新型属于检测技术领域，具体涉及一种电机性能综合检测电路，包括：MCU电路、电机接口电路、电机控制电路、电源模块、开关控制模块、通讯模块以及复位模块；电机接口电路用于连接待测电机；电机控制电路分别与MCU电路以及待测电机电连接，电机控制电路用于控制待测电机的正转和反转；电源模块与MCU电路连接；开关控制模块与MCU电路连接，用于控制开启测试或停止测试；通讯模块与MCU电路连接，用于电机性能综合检测电路与电脑相连接，实现测试数据的输出。本申请所提供的电机性能综合检测电路为独立的电机检测设备，不包含任何计量设备，可以直接与电脑连接使用，提高了测试效率，降低了生产成本。

技术领域

本实用新型涉及检测技术领域，尤其是涉及一种电机性能综合检测电路及装置。

背景技术

电机测试项目根据不同测试目的可以分为：实验室测试项目、生产线测试项目、品质监管测试项目等；实验室测试项目主要包括对电机的性能、可靠性、安全性和寿命等的测量。生产线测试项目主要包括电机出厂前的电气性能检查、机械检查、外观检查、以及其它标准规定的项目。生产线测试项目包括：电机表面光洁度、铁芯有无斑点、裂纹、电机叠高、电机尺寸、电机转向、定子电阻、定子绕组脉冲测试等；品质监管测试项目主要包括电机制作过程中有无漆膜伤、电机绝缘是否正常、电机尺寸是否正常等。品质监管测试项目包括：绕组对铁芯绝缘电阻测定、绕组对铁芯耐压测试、定子匝间耐压测试、定子绕组脉冲测试、盐雾实验、电机定子匝数测定、电机定子电阻测定、尺寸外观等，而电机在生产完成后一般需经过系统的测试才能上市销售。

目前，现有的电机出厂后一般是人工通过万用表进行内部检测，以及肉眼进行外观瑕疵检测，检测速度慢，自动化程度低，且检测不够全面，同时针对不同的检测环节需要移至不同的工位，耗时长，运输不便，同时当出现新的问题时，需要购买新的设备，且对人员进行培训，费时费力，导致员工劳动强度大。现有的技术方案是根据厂家提供的出厂测试报告，单独对一个电机进行转动测试，人工计量转动次数，测试项目不仅单一不够全面，而且统计误差率很高，人员占用严重，不能自动化测试。

基于以上，如何提供了一种全自动电机检测设备，以解决上述背景技术中提出的问题是亟待解决的问题。

实用新型内容

为了克服背景技术中的不足，本实用新型提供了以下技术方案：

第一方面，本实用新型提供一种电机性能综合检测电路，包括：MCU电路、电机接口电路、电机控制电路、电源模块、开关控制模块、通讯模块以及复位模块；

所述电机接口电路用于连接待测电机；

所述电机控制电路分别与所述MCU电路以及待测电机电连接，所述电机控制电路用于控制待测电机的正转和反转；

所述电源模块与所述MCU电路连接，用于将12V输入电压转换成电机运行所需的5V或3.3V的工作电压；

所述开关控制模块与所述MCU电路连接，用于控制开启测试或停止测试；

所述通讯模块与所述MCU电路连接，用于所述电机性能综合检测电路与电脑相连接，实现测试数据的输出。

进一步地，还包括复位电路，所述复位电路与所述MCU电路连接，用于复位所述MCU电路。

进一步地，所述通讯模块为USB串口模块，用于将MCU电路记录的电机测试结果发送到PC端。

进一步地，还包括指示灯电路，所述指示灯电路用于指示测试是否通过，当所述指示灯为绿灯则表示通过检测，当所述指示灯为红灯则表示检测失败。

进一步地，还包括报警模块，所述报警模块与所述MCU电路连接，用于故障报警。

进一步地，还包括晶振电路，所述晶振电路与所述MCU电路连接，用于为MCU电路的控制芯片提供外部时钟。