[实用新型]一种稳定性强的集成电路测试装置底座

说明书

本实用新型公开了一种稳定性强的集成电路测试装置底座，涉及集成电路技术领域。本实用新型包括测试台，测试台底部的四个角处均开设有第一环形槽、第一滑道、第二滑道、卡槽，第一环形槽的内部转动配合有第一环形板，测试台底部的四个角处均弹性且滑动配合有卡块，卡块与第一环形板配合。本实用新型设置的底座，便捷了通过底座对测试台进行支撑，滑动柱的设置，以使底座在第一弹簧弹性的带动下带动滑动柱在第一滑道内滑动，以使通过底座适应不同的放置面，提高了测试台在测试的准确率。

技术领域

本实用新型属于集成电路技术领域，特别是涉及一种稳定性强的集成电路测试装置底座。

背景技术

稳定性强的集成电路测试装置底座是对集成电路测试装置进行放置的一种底座，集成电路是一种微型电子器件或部件。采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构，其中所有元件在结构上已组成一个整体。

现有便于携带的集成电路测试装置需要放置的地方需要是水平面上，如果集成电路测试装置放置的地方不水平，这样容易造成集成电路测试装置在使用时稳定性差的情况，进而会影响集成电路测试装置在测试时的准确性。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种稳定性强的集成电路测试装置底座，解决了现有集成电路测试装置稳定性差的技术问题。

为达上述目的，本实用新型是通过以下技术方案实现的：

一种稳定性强的集成电路测试装置底座，包括测试台，测试台底部的四个角处均开设有第一环形槽、第一滑道、第二滑道、卡槽，第一环形槽的内部转动配合有第一环形板，测试台底部的四个角处均弹性且滑动配合有卡块，卡块与第一环形板配合；

滑动柱，且滑动柱滑动配合在第一滑道内，滑动柱外侧壁上装设有定位板，滑动柱的一端装设有底座，底座与第一环形板之间装设有第一弹簧。

可选的，测试台底部的四个角处均开设有第三滑道，且卡块滑动配合在第三滑道内，第三滑道与第一滑道相连通，卡块与第三滑道侧壁之间装设有第二弹簧，卡块的一侧装设有滑动杆，第一环形板的外侧壁开设有第一定位槽、第二定位槽，且第一定位槽位于靠近第二滑道的一侧，第二定位槽位于靠近卡槽的一侧，方便了通过滑动杆带动卡块在第三滑道内滑动。

可选的，测试台底部的四个角处均开设有第二环形槽、第三环形槽，且第二环形槽、第三环形槽与第一环形槽相连通，第一环形板的内侧壁、外侧壁均装设有第二环形板，且两个第二环形板分别位于第二环形槽、第三环形槽内，减少了第一环形板在转动时倾斜的情况。

本实用新型的实施例具有以下有益效果：

本实用新型的一个实施例设置的底座，便捷了通过底座对测试台进行支撑，滑动柱的设置，以使底座在第一弹簧弹性的带动下带动滑动柱在第一滑道内滑动，以使通过底座适应不同的放置面，提高了测试台在测试的准确率。

当然，实施本实用新型的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本实用新型的进一步理解，本实用新型的示意性实施例及其说明用于解释本实用新型，并不构成对本实用新型的不当限定。在附图中：

图1为本实用新型一实施例的立体结构示意图；

图2为本实用新型一实施例的仰视结构示意图；

图3为图2中A处结构示意图。

其中，上述附图包括以下附图标记：

测试台1，第一环形槽2，第一滑道3，第二滑道4，卡槽5，滑动柱6，底座7，定位板8，第一弹簧9，第一环形板10，第三滑道11，第二弹簧12，卡块13，滑动杆14。