[实用新型]电芯保护电路和电芯管理系统

说明书

本实用新型公开了一种电芯保护电路，与电芯相连，包括电芯保护芯片、第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、电芯接口和充放电接口；电芯保护芯片包括充电控制端和放电控制端；第一晶体管，与放电控制端和电芯接口相连；第二晶体管，与充电控制端、第一晶体管和第三晶体管相连；第三晶体管，与充电控制端和充放电接口相连；在电芯正常充电时，第一晶体管导通，第二晶体管或第三晶体管导通；在电芯过充时，在电芯正常充电时导通的所述第二晶体及第三晶体管断开。本技术方案能够在一个充电保护器件失效的情况下正常进行过充保护，实现滥充测试，同时减少电芯保护电路的成本，并降低电芯保护电路中电子元件的占用面积。

技术领域

本实用新型涉及电芯控制技术领域，尤其涉及一种电芯保护电路和电芯管理系统。

背景技术

目前电芯在进行UL2054认证时，滥充测试失效率较高，滥充测试需要电芯管理系统中的一个保护器件(晶体管)故障之后，以6V1C/6V2C对之后的电芯管理系统中的电芯进行长时间充电，并要求不起火不爆炸。

现有的电芯保护电路，一般采用双IC双晶体管的方案对电芯进行UL2054认证，即通过两个IC分别控制两个晶体管，实现电芯的UL2054认证。但是，上述方案导致电芯保护电路需要的成本较高，且受布局空间限制。

实用新型内容

本实用新型实施例提供一种电芯保护电路和电芯管理系统，以解决电芯保护电路成本较高的问题。

一种电芯保护电路，与电芯相连，包括电芯保护芯片、第一晶体管、第二晶体管、第三晶体管、电芯接口和充放电接口；所述电芯保护芯片包括充电控制端和放电控制端；

所述第一晶体管，与所述放电控制端和所述电芯接口相连；

所述第二晶体管，与所述充电控制端、所述第一晶体管和所述第三晶体管相连；

所述第三晶体管，与所述充电控制端和所述充放电接口相连；

在所述电芯正常充电时，所述第一晶体管导通，所述第二晶体管或所述第三晶体管导通；在所述电芯过充时，在所述电芯正常充电时未被短路的所述第二晶体管及所述第三晶体管断开。

进一步地，所述电芯保护电路还包括电流采样电路；所述电流采样电路分别与所述电芯接口、所述第一晶体管和所述电芯保护芯片相连，所述电流采样电路用于采集所述电芯保护电路中的实时电流，将所述实时电流发送给所述电芯保护芯片。

进一步地，所述电流采样电路包括采样电阻；所述采样电阻的第一端，与电芯负极和所述电芯保护芯片的VSS端相连，所述采样电阻的第二端，与所述第一晶体管和所述电芯保护芯片的VM端相连。

进一步地，所述电芯保护电路还包括第一限流电阻；所述第一限流电阻的第一端与电芯正极和充放电口正极相连，所述第一限流电阻的第二端，与所述电芯保护芯片的VDD端相连；

所述电芯保护电路还包括第二限流电阻；所述第二限流电阻的第一端与充放电口负极和第三晶体管相连，所述第二限流电阻的第二端与所述电芯保护芯片的VM端相连。

进一步地，所述电芯保护电路还包括第一滤波电容；所述第一滤波电容的第一端与所述电芯保护芯片的VDD端相连，所述第一滤波电容的第二端与所述电芯保护芯片的VM端相连；

所述电芯保护电路还包括第二滤波电容；所述第二滤波电容的第一端与所述采样电阻的第二端相连，所述第二滤波电容的第二端与所述第二限流电阻的第一端相连。

进一步地，所述电芯保护电路还包括静电保护电路；所述静电保护电路的第一端与充放电口正极与电芯正极的连接节点相连，所述静电保护电路的第二端与所述第二晶体管与充放电口负极的连接节点相连。

进一步地，所述静电保护电路包括静电保护电容。

进一步地，所述第一晶体管、第二晶体管和第三晶体管为MOS管。