[发明专利]一种基于FPGA的模拟信号综合测量装置在审

专利信息
申请号: 202211720674.X 申请日: 2022-12-30
公开(公告)号: CN116148568A 公开(公告)日: 2023-05-23
发明(设计)人: 武福存;许崴稚;储艳丽;黄月芳;朱硕鹏 申请(专利权)人: 北京航天测控技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R13/00
代理公司: 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 代理人: 刘敏
地址: 100041 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 fpga 模拟 信号 综合 测量 装置
【说明书】:

本申请涉及一种基于FPGA的模拟信号综合测量装置,包括:FPGA模块,集成有多个测量单元,用于调用与测量装置的工作模式对应的测量单元,并为测量单元配置工作参数;控制测量单元根据工作参数进行综合测量。通过将多个测量单元集成在同一个FPGA模块上,通过一个FPGA模块就能够实现多个测量功能,解决了综合测量设备会占用较大空间的问题。

技术领域

本申请涉及测量技术领域,尤其涉及一种基于FPGA的模拟信号综合测量装置。

背景技术

在测试与测量测试设备、航空航天与国防测试测量及半导体测试领域中,经常使用到宽带信号激励、宽带信号采集及高精度时间参数测量功能,且测试系统集成度较高,使用独立的宽带信号发生设备、宽带信号采集设备及高精度时间参数测量设备,综合测量设备会占用较大空间,还会大幅度增加测试系统体积及重量。

针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本申请提供了一种基于FPGA的模拟信号综合测量装置,以解决上述“综合测量设备会占用较大空间”的技术问题。

根据本申请实施例的一个方面,本申请提供了一种基于FPGA的模拟信号综合测量装置,包括:FPGA模块,集成有多个测量单元,用于调用与测量装置的工作模式对应的测量单元,并为测量单元配置工作参数;控制测量单元根据工作参数进行综合测量。

可选地,测量单元包括:波形发生单元,用于在工作模式为波形发生器模式的情况下,根据预先配置的波形参数输出波形信号;信号采集单元,用于在工作模式为数字化仪模式的情况下,根据预先配置的采集参数进行模拟信号的采集并存储;时间测量单元,用于在工作模式为时间参数测量模式的情况下,根据预先配置的测量参数进行高精度时间参数测量。

可选地,FPGA模块还包括:PXI接口单元,用于与PXI总线建立连接,以使FPGA模块与PXI总线进行通讯交互。

可选地,测量装置还包括:存储器电路,与FPGA模块连接,用于存储波形发生单元输出的波形信号以及信号采集单元采集到的模拟信号。

可选地,测量装置还包括:高速数模转换单元,与FPGA模块连接,用于将波形发生单元输出的数字信号转换为模拟输出信号。

可选地,测量装置还包括:高速模数转换单元,与FPGA模块连接,用于将模拟输入信号转换为数字信号,并传输至信号采集单元。

可选地,测量装置还包括:时钟单元,与FPGA模块连接,用于为装置的正常运行提供高性能基准时钟。

可选地,测量装置还包括:高速比较器单元,与FPGA模块连接,用于将模拟输入信号转换为数字脉冲信号,并传输至时间测量单元。

可选地,测量装置还包括:输入信号调理单元,输入信号调理单元的输入端与前面板的测量通道连接,输入信号调理单元的输出端与高速模数转换单元连接,用于对测量通道的模拟输入信号进行特性调理。

可选地,测量装置还包括:输出信号调理单元,输出信号调理单元的输入端与高速数模转换单元连接,输出信号调理单元的输出端与前面板的测量通道连接,用于对高速数模转换单元输出的模拟输出信号进行特性调理。

本申请实施例提供的上述技术方案与相关技术相比具有如下优点:

本申请通过一种基于FPGA的模拟信号综合测量装置,包括:FPGA模块,集成有多个测量单元,用于调用与测量装置的工作模式对应的测量单元,并为测量单元配置工作参数;控制测量单元根据工作参数进行综合测量。通过将多个测量单元集成在同一个FPGA模块上,通过一个FPGA模块就能够实现多个测量功能,解决了综合测量设备会占用较大空间的问题。

附图说明

此处的附图被并入说明书中并构成本说明书的一部分,示出了符合本申请的实施例,并与说明书一起用于解释本申请的原理。

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