[发明专利]平面磁方向角检测方法、系统、介质及器件

权利要求书

1.一种平面磁方向角检测方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：

在磁场空间中，获取放置在检测平面上的磁蛋白修饰环形微电极阵列的输出阻抗；

基于所述输出阻抗获取平面磁方向角。

2.根据权利要求1所述的平面磁方向角检测方法，其特征在于，在磁场空间中，获取放置在平面上的磁蛋白修饰环形微电极阵列的输出阻抗包括以下步骤：

在磁场屏蔽环境下，获取放置在检测平面上的磁蛋白修饰环形微电极阵列的第一输出阻抗；

在磁场空间中，获取放置在检测平面上的磁蛋白修饰环形微电极阵列的第二输出阻抗；

将所述第二输出阻抗减去所述第一输出阻抗，获取所述输出阻抗。

3.根据权利要求1所述的平面磁方向角检测方法，其特征在于，基于所述输出阻抗获取平面磁方向角包括以下步骤：

获取所述输出阻抗对应的磁场强度；

获取所述磁场强度的最大值或所述磁场强度的梯度最大值；

将所述磁场强度的最大值或所述磁场强度的梯度最大值对应的输出阻抗所在方向为所述平面磁方向角。

4.根据权利要求1所述的平面磁方向角检测方法，其特征在于，基于所述输出阻抗获取平面磁方向角包括以下步骤：

将所述输出阻抗归一化；

将归一化后的输出阻抗映射为灰度图像；

计算所述灰度图像在半径方向上的阻抗最大值和阻抗梯度最大值；

获取所述阻抗最大值对应的输出阻抗所在的第一方向角和所述阻抗梯度最大值对应的输出阻抗所在的第二方向角；

基于预设权重计算所述第一方向角和所述第二方向角的加权平均值，将所述加权平均值作为所述平面磁方向角。

5.根据权利要求4所述的平面磁方向角检测方法，其特征在于，所述第一方向角的权重区间为[0,1]，所述第二方向角的权重区间为[0,1]，所述第一方向角的权重和所述第二方向角的权重之和为1。

6.根据权利要求1所述的平面磁方向角检测方法，其特征在于，所述磁蛋白修饰环形微电极阵列采用MagR/Cry4复合磁蛋白。

7.一种平面磁方向角检测系统，其特征在于，所述系统包括阻抗获取模块和方向角获取模块；

所述阻抗获取模块用于在磁场空间中，获取放置在检测平面上的磁蛋白修饰环形微电极阵列的输出阻抗；

所述方向角获取模块用于基于所述输出阻抗获取平面磁方向角。

8.一种平面磁方向角检测设备，其特征在于，所述平面磁方向角检测设备包括：

存储器，被配置为存储计算机程序；以及

处理器，与所述存储器通信相连，并且被配置为调用所述计算机程序以执行根据权利要求1至6中任一项所述的平面磁方向角检测方法。

9.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行以实现根据权利要求1至6中任一项所述的平面磁方向角检测方法。

10.一种平面磁方向角检测系统，其特征在于，包括权利要求8所述的平面磁方向角检测设备、检测平面、磁蛋白修饰环形微电极阵列和阻抗采集模块；

所述磁蛋白修饰环形微电极阵列位于磁场空间中，且放置在所述检测平面上；

所述阻抗采集模块用于采集所述磁蛋白修饰环形微电极阵列的输出阻抗；

所述平面磁方向角检测设备用于根据所述输出阻抗获取平面磁方向角。