[发明专利]显示检测装置、检测方法及检测系统在审
申请号: | 202211639240.7 | 申请日: | 2022-12-20 |
公开(公告)号: | CN115938255A | 公开(公告)日: | 2023-04-07 |
发明(设计)人: | 郑德胜;李俊雨;廖柏凯;李玫忆;郭豫杰;洪春长;周上杰;吕侑儒;林裕勋;陈俊硕 | 申请(专利权)人: | 友达光电股份有限公司 |
主分类号: | G09G3/00 | 分类号: | G09G3/00 |
代理公司: | 北京市立康律师事务所 11805 | 代理人: | 许志影;梁挥 |
地址: | 中国台湾新竹科*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 检测 装置 方法 系统 | ||
本发明公开了一种显示检测装置、检测方法及检测系统,其中该显示检测装置包含面板、检测板及检测转接板。面板用以进行显示。检测板耦接于面板,并用以输入检测信号。检测转接板耦接于面板,并用以响应检测信号,藉以产生检测结果。
技术领域
本案涉及显示检测领域。详细而言,本案涉及一种显示检测装置、检测方法及检测系统。
背景技术
现有显示检测装置设计为通过控制面板阵列电路的晶体管形成检测的封闭回路,以测量电流或电压判断面板阵列电路的晶体管是否损坏。然而,使用测量电流或电压方式,会因为晶体管损坏程度较不严重,如微小漏电,而无法被检测出来。因此,控制晶体管形成检测的封闭回路,使用测量电流或电压方式判断面板阵列电路的晶体管是否损坏,无法完整模拟面板的情况。
再者,由于显示装置中的微发光二极管的成本昂贵,于检测过程中可能造成微发光二极管的损坏。
因此,上述技术尚存诸多缺陷,而有待本领域从业人员研发出其余适合的检测电路设计。
发明内容
本案的一面向涉及一种显示检测装置。显示检测装置包含面板、检测板及检测转接板。面板用以进行显示。检测板耦接于面板,并用以输入检测信号。检测转接板耦接于面板,并用以响应检测信号,藉以产生检测结果。
本案的另一面向涉及一种检测方法。检测方法包含以下步骤:结合检测转接板的检测回路至显示检测装置的面板;通过显示检测装置的检测板输入检测信号至面板;以及通过检测转接板的检测回路响应检测信号,以产生检测结果。
本案的另一面向涉及一种检测系统。检测系统用以检测显示检测装置。检测系统包含显示检测装置及测试机台。显示检测装置包含面板、检测板及检测转接板。面板用以进行显示,并用以自检测系统的点灯治具传输检测信号。检测板耦接于面板,并用以传输自面板的检测信号。检测转接板耦接于面板,并用以响应检测信号,藉以产生检测结果。测试机台包含探针平台及感测器。探针平台用以定位及校准显示检测装置的面板。感测器耦接于探针平台,并用以撷取检测转接板的检测结果,以产生特征影像,藉以根据特征影像评估显示检测装置是否异常。
附图说明
参照后续段落中的实施方式以及下列图式,当可更佳地理解本案的内容:
图1为根据本案一些实施例绘示的显示检测装置的电路方块示意图;
图2为根据本案一些实施例绘示的检测方法的步骤流程示意图;
图3为根据本案一些实施例绘示的检测系统的电路方块示意图;
图4为根据本案一些实施例绘示的检测系统的电路方块示意图;以及
图5为根据本案一些实施例绘示的检测系统的局部区域放大示意图。
其中,附图标记:
100:显示检测装置
110:面板
111:面板阵列电路
120:检测板
130:检测转接板
T1~TN:控制晶体管
E1~EN:电极板
P1~PN:薄膜探针
D1~DN:检测二极管
L1~LN:光强度
900:光学检测系统
910:电性检测板
200:方法
210~230:步骤
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