[发明专利]一种用于正置式光学金相显微镜的样品台

说明书

本申请提供了一种用于正置式光学金相显微镜的样品台，所述样品台包括：至少三个平面调整爪，形成第一平面；壳体，包括腔体；所述至少三个平面调整爪设置在所述壳体上；顶杆装置，设置在所述腔体，所述顶杆装置能够在所述腔体内上下移动；调整垫片，设置在所述顶杆装置上；其中，样品放置在所述调整垫片上时，通过所述顶杆装置将所述样品顶起直至与所述第一平面平行；本申请适用于被观测的样品表面和样品放置的载物台表面之间的相对平行度不佳的样品在正置式光学金相显微镜下进行观测，降低了正置式光学金相显微镜对样品平行度的要求，提高了工作效率和对样品的观察效果，拓宽了正置式光学金相显微镜的应用能力。

技术领域

本申请属于光学金相显微镜的附件装置技术领域，尤其涉及一种用于正置式光学金相显微镜的样品台。

背景技术

光学金相显微镜作为金相检测与分析专业的主要设备，广泛的应用在各金属检测的实验室。根据物镜与载物台的相对位置的变化，光学金相显微镜分为正置式和倒置式两种。正置式光学金相显微镜具有光路损失小、分辨率高的优点，但同时也存在对观测样品制备要求高的特点。由于正置式光学金相显微镜的物镜镜头向下，载物台在物镜的下方，因此要求被观测的样品表面和样品放置的载物台表面之间的相对平行度要好。

如果两者的相对平行度不好，通过目镜或金相采集软件观察样品的金相组织形貌就会出现在同一视场下有的区域清晰，有的区域模糊(图1)；把模糊的区域调清晰后，清晰的区域又变模糊了，严重影响着金相组织检测结果的评定。尤其是在高放大倍数的物镜下，对被测金相样品的相对平行度要求更高。但是往往在金相样品的制备过程中，被测金相样品表面的平整度相对比较好保证；而样品的平行度却很难保证。

即使能应用对金相样品进行镶嵌或用机械加工方式在样品切取过程中保证其平行度，但是在样品的磨抛过程难免会出现磨抛表面(样品观测表面)倾斜，平行度变差的现象。样品直接放在正置式光学金相显微镜的载物台上观测，效果不佳，甚至影响检测结果。

本人发明了一种用于正置式光学金相显微镜的样品台，可以把平行度不佳的金相样品放在上面，通过样品台的适当调整，使样品台放置到正置式光学金相显微镜的载物台后，被测金相样品表面与载物台表面平行度得到调整，视场内的样品组织形貌变得清晰(图2)。

发明内容

本发明的目的：提供了一种光学金相显微镜的附件装置，作为正置式光学金相显微镜的样品台进行样品装夹、放置以及组织形貌观测。解决了被测金相样品由于平行度不佳，导致通过目镜或金相采集软件观察样品的金相组织形貌出现在同一视场下有的区域清晰，有的区域模糊的问题。为平行度不佳的金相样品能在正置式光学金相显微镜下清晰观测到组织形貌提供了一个解决方案。

本申请提供了一种用于正置式光学金相显微镜的样品台，所述样品台包括：

至少三个平面调整爪，形成第一平面；

壳体，包括腔体；所述至少三个平面调整爪设置在所述壳体上；

顶杆装置，设置在所述腔体，所述顶杆装置能够在所述腔体内上下移动；

调整垫片，设置在所述顶杆装置上；其中，样品放置在所述调整垫片上时，通过所述顶杆装置将所述样品顶起直至与所述第一平面平行。

优选地，所述顶杆装置还包括：

顶块，用于放置所述调整垫片；

顶杆，与所述顶块连接成一体；其中，所述顶杆上设置有螺纹。

优选地，所述样品台还包括：

手轮，包括螺纹孔，所述顶通过所述螺纹孔与所述手轮螺纹连接；转动所述手轮时，所述顶杆带动所述顶块向上移动或向下移动。

优选地，所述手轮还包括旋转轴；所述样品台还包括：

轴承架，设置在所述腔体内；