[发明专利]一种基于阿罗尼兹方程的舱段级加速贮存试验方法

说明书

本发明公开了一种基于阿罗尼兹方程的舱段级加速贮存试验方法，属于加速贮存试验技术领域。该方法选取舱段包含的整机的最高应力水平的最小值，作为舱段加速贮存试验的加速应力水平；分别计算各整机对应贮存期指标应该开展的加速贮存试验时间，并取所有整机的加速贮存试验时间的最小值，作为舱段开展加速贮存试验的试验时间，根据整机的信息计算其参加舱段加速贮存试验后，仍需要进行的补充加速贮存试验的试验时间；根据计算结果开展加速贮存试验和模拟飞行验证试验，试验通过后给出贮存期评估结论。本发明采取舱段加速与整机补充加速相结合的方式，对整机及舱段进行了试验验证，给出的贮存期结论更加可信。

技术领域

本发明属于加速贮存试验技术领域，具体涉及一种基于阿罗尼兹方程的舱段级加速贮存试验方法。

背景技术

加速贮存试验是在不改变产品失效机理的前提下，通过加大应力加速产品失效，根据加速模型计算得出正常应力水平下的贮存期。国内外的研究表明，做低层级产品的加速贮存试验并不能反映高层级产品的真实失效情况，部分在高层级产品上暴露出现的失效现象，难以够通过由其包含的低层级产品的加速贮存试验反映出来。对舱段开展加速贮存试验，不仅可以同时对多种类型的设备开展试验，提高失效效率，还能提高评估结论的准确性。

舱段通常包含有电子产品、机电产品、弹性元件、结构件等不同类型的产品，在采用温度进行加速贮存的过程中，由于不同产品对温度的敏感程度不相同，导致在加速贮存试验过程出现“过老化”或“欠老化”问题，这就给舱段的加速贮存试验带来困难。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种基于阿罗尼兹方程的舱段级加速贮存试验方法，通过采取舱段加速与整机补偿加速相结合的方式，有效解决了现有技术中的“过老化”或“欠老化”问题。

一种基于阿罗尼兹方程的舱段级加速贮存试验方法，该方法实现的步骤如下：

步骤一：确定舱段的加速应力水平；

步骤二：计算舱段的加速时间；

步骤三：计算整机(或组件)的补偿加速时间；

步骤四：根据模拟飞行验证试验的层级，确定舱段和整机的加速贮存试验顺序。

进一步地，所述步骤一中确定舱段的加速应力水平的过程如下：

设舱段含有p种整机(或组件)，各整机(或组件)能够承受的最高应力水平为T₁，T₂，…，T_p，则取

T_S＝min{T_i:1≤i≤p}   (1)

作为舱段的加速应力水平。

进一步地，所述步骤二中计算舱段的加速时间的过程如下：

记整机(或组件)i的加速老化试验时间不妨设t_i,0、E_i为第i种整机的贮存期指标要求值和活化能，则在应力水平T_S下的试验时间：

式中，T₀为贮存温度(K)；

t_i,0、E_i为第i种整机的贮存期指标要求值和活化能。

舱段在T_S下的加速时间为：

式中，由(2)式计算。

进一步地，所述步骤三中计算整机(或组件)的补偿加速时间的过程如下：

整机(或组件)i在舱段的加速应力水平T_S下补偿加速时，其补尝加速的试验时间为