[发明专利]一种中子测量仪

权利要求书

1.一种中子测量仪，包括球形外层聚乙烯慢化体组件(1)和柱形内层聚乙烯慢化体组件(2)，所述柱形内层聚乙烯慢化体组件(2)装配于球形外层聚乙烯慢化体组件(1)的内侧，其特征在于：所述球形外层聚乙烯慢化体组件(1)主要由球盖(11)、球形外层聚乙烯慢化体主体(12)、支撑柱(13)组成，所述柱形内层聚乙烯慢化体主体(21)中装配有热中子探测器(25)，所述柱形内层聚乙烯慢化体组件(2)由柱形内层聚乙烯慢化体主体(21)、侧面热中子吸收层(22)、顶部热中子吸收层(23)、底部热中子吸收层(24)、热中子探测器(25)、硬件模块(26)和压盖(27)组成，所述侧面热中子吸收层(22)套装在柱形内层聚乙烯慢化体主体(21)的外部，所述柱形内层聚乙烯慢化体主体(21)的底部装配有辅助柱形内层聚乙烯慢化体组件(2)装配的定位柱(211)，所述球形外层聚乙烯慢化体组件(1)中开设有与定位柱(211)相匹配的定位槽(123)。

2.根据权利要求1所述的一种中子测量仪，其特征在于：所述支撑柱(13)有三个，且三个支撑柱(13)均匀安装在球球形外层聚乙烯慢化体组件(1)的底部。

3.根据权利要求1所述的一种中子测量仪，其特征在于：所述柱形内层聚乙烯慢化体组件(2)中设计有10个空气通道，分别为1个顶部空气通道(111)、1个底部空气通道(121)、以及8个在球形外层聚乙烯慢化体组件(1)外侧均匀分布的外空气通道(122)。

4.根据权利要求3所述的一种中子测量仪，其特征在于：所述侧面热中子吸收层(22)的外侧采用一体加工法加工有均匀分布的8个第一热中子吸收层孔(222)，所述第一热中子吸收层孔(222)的位置与外空气通道(122)的位置相互对应。

5.根据权利要求4所述的一种中子测量仪，其特征在于：所述顶部热中子吸收层(23)上设计有第二热中子吸收层孔(231)，所述底部热中子吸收层(24)上设计第三热中子吸收层孔(241)。

6.根据权利要求1所述的一种中子测量仪，其特征在于：所述侧面热中子吸收层(22)呈薄壁圆柱状，且侧面热中子吸收层(22)采用镉或含硼聚乙烯材料制成。

7.根据权利要求1所述的一种中子测量仪，其特征在于：所述侧面热中子吸收层(22)上均匀设计有8个定位销孔(221)，所述定位销孔(221)均匀分布于侧面热中子吸收层(22)的上下和周圈位置，且侧面热中子吸收层(22)安装于柱形内层聚乙烯慢化体主体(21)的侧面，上下对齐，所述柱形内层聚乙烯慢化体主体(21)的外部装配有与定位销孔(221)相匹配的定位销。

8.根据权利要求5所述的一种中子测量仪，其特征在于：所述球形外层聚乙烯慢化体组件(1)的空气通道分别与柱形内层聚乙烯慢化体组件(2)的热中子吸收层孔对齐，具体对应关系为顶部空气通道(111)对齐第二热中子吸收层孔(231)，底部空气通道(121)对齐第三热中子吸收层孔(241)，外空气通道(122)对齐第一热中子吸收层孔(222)。