[发明专利]流水线型ADC线性及非线性误差的校准方法、系统

权利要求书

1.一种流水线型ADC线性及非线性误差的校准方法，其特征在于，所述流水线型ADC包括多个子级ADC，所述校准方法包括：

获取多个子级ADC的采样点数据；

根据所述采样点数据生成多个粒子点；

获取每个所述粒子点的当前各阶误差系数、每个所述粒子点的历史最优各阶误差系数以及所述多个粒子点中的历史最优各阶误差系数；

根据所述当前各阶误差系数、每个所述粒子点的历史最优各阶误差系数以及所述多个粒子点中的历史最优各阶误差系数更新得到每个所述粒子点的目标各阶误差系数；

根据所述采样点数据以及目标各阶误差系数计算每个所述粒子点的当前性能参数值；

将所述当前性能参数值与每个所述粒子点的历史最优性能参数值以及所述多个粒子点中的历史最优性能参数值进行比较，以得到每个所述粒子点的目标历史最优性能参数值；

输出所述目标历史最优性能参数值对应的目标粒子点的各阶误差系数；

根据所述目标粒子点的各阶误差系数校准所述多个子级ADC的输出数据，以得到校准后的输出数据；

所述将所述当前性能参数值与每个所述粒子点的历史最优性能参数值以及所述多个粒子点中的历史最优性能参数值进行比较，以得到每个所述粒子点的目标历史最优性能参数值的步骤包括：

比较每个所述粒子点的当前性能参数值是否大于每个所述粒子点的历史最优性能参数值；若是，则比较每个所述粒子点的当前性能参数值是否大于所述多个粒子点中的历史最优性能参数值，若是，则将每个所述粒子点的当前性能参数值作为每个所述粒子点的目标历史最优性能参数值；若每个所述粒子点的当前性能参数值是不大于所述多个粒子点中的历史最优性能参数值，则将所述多个粒子点中的历史最优性能参数值作为每个所述粒子点的目标历史最优性能参数值；

所述将所述当前性能参数值与每个所述粒子点的历史最优性能参数值以及所述多个粒子点中的历史最优性能参数值进行比较，以得到每个所述粒子点的目标历史最优性能参数值的步骤还包括：

若每个所述粒子点的当前性能参数值不大于每个所述粒子点的历史最优性能参数值，则比较每个所述粒子点的原始历史最优性能参数值是否大于所述多个粒子点中的历史最优性能参数值，若是，则将每个所述粒子点的历史最优性能参数值作为每个所述粒子点的目标历史最优性能参数值；若否，则将所述多个粒子点中的历史最优性能参数值作为每个所述粒子点的目标历史最优性能参数值。

2.如权利要求1所述的流水线型ADC线性及非线性误差的校准方法，其特征在于，所述将所述当前性能参数值与每个所述粒子点的原始历史最优性能参数值以及所述多个粒子点中的历史最优性能参数值进行比较，以得到每个所述粒子点的目标历史最优性能参数值的步骤之后，所述校准方法还包括：

获取更新比较迭代次数；

判断所述更新比较迭代次数是否大于预设更新比较迭代次数，若是，则输出所述目标历史最优性能参数值对应的目标粒子点的各阶误差系数；根据所述目标粒子点的各阶误差系数校准所述多个子级ADC的输出数据，以得到校准后的输出数据；若否，则重新执行根据所述当前各阶误差系数、每个所述粒子点的历史最优各阶误差系数以及所述多个粒子点中的历史最优各阶误差系数更新得到每个所述粒子点的目标各阶误差系数的步骤。

3.如权利要求1所述的流水线型ADC线性及非线性误差的校准方法，其特征在于，所述获取多个子级ADC的采样点数据的步骤包括：

获取所述多个子级ADC的输出数据；

对所述输出数据进行重构，以得到重构后的输出数据；

从所述重构后的输出数据中获取所述多个子级ADC的采样点数据。

4.如权利要求1所述的流水线型ADC线性及非线性误差的校准方法，其特征在于，所述根据所述采样点数据生成多个粒子点的步骤包括：

获取所述采样点数据对应的粒子点范围；

在所述粒子点范围内生成所述多个粒子点。