[发明专利]基于计算全息器件的离轴自由曲面光谱仪系统的装调设备在审

专利信息
申请号: 202211492652.2 申请日: 2022-11-25
公开(公告)号: CN115793272A 公开(公告)日: 2023-03-14
发明(设计)人: 李红梅;吴建锋 申请(专利权)人: 上海鉴影光学科技有限公司
主分类号: G02B27/62 分类号: G02B27/62;G02B5/32
代理公司: 南京众创睿智知识产权代理事务所(普通合伙) 32470 代理人: 任翠涛
地址: 200000 上海市闵行区*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 基于 计算 全息 器件 自由 曲面 光谱仪 系统 设备
【权利要求书】:

1.基于计算全息器件的离轴自由曲面光谱仪系统的装调设备,包括装调设备,其特征在于:所述装调设备由干涉仪(1)、衰减片(2)、计算全息器件(3)、光谱仪模块(4)、六维调节架(12)、金属垫块(13)、气浮平台(14)组成,其中光谱仪模块(4)由光谱仪框架(5)、第一反射镜框(6)、光栅镜框(7)、第三反射镜框(8)、第一反射镜(9)、光栅(10)、第三反射镜(11)、第二反射镜(15)、第二反射镜框(16)、标准球面镜(17)组成,并且通过以下步骤完成装调:

步骤一,利用六维调节架(12)和金属垫块(13)将干涉仪(1)、衰减片(2)CGH(3)、光谱仪模块(4)安装在气浮平台(14),将光轴通过直尺等测量方式初步调到等高状态;

步骤二,干涉仪(1)发出的光入射到CGH(3)的第一个对准全息区域(3-5),反射后回到干涉仪(1),形成干涉条纹,调整六维调节架(12)使得第一个对准全息区域(3-5)出现零条纹,固定六维调节架(12);干涉仪(1)发出的光入射到第一组基准全息区域(3-8),产生四个像点,调整第一反射镜框(6),使得四个像点与第一反射镜框上四个标记点重合,初步确定第一反射镜(9)位置;干涉仪(1)发出的光入经过衰减片(2)后,入射到第一个主全息区域(3-1)上,再入射到光谱仪第一反射镜(9)上,光反射回到干涉仪(1),形成干涉条纹,调整第一反射镜框(6)使得干涉条纹出现零条纹,确定第一反射镜(9)位置;

步骤三,干涉仪(1)发出的光入射到CGH(3)的第二个对准全息区域(3-6),反射后回到干涉仪(1),形成干涉条纹,调整六维调节架(12)使得第二个对准全息区域(3-6)出现零条纹,固定六维调节架(12);干涉仪(1)发出的光入射到第二组基准全息区域组(3-9),产生四个像点,调整光栅镜框(7)使得四个像点和光栅镜框上四个标记点重合,初步确定光栅(10)位置;干涉仪(1)发出的光入经过衰减片(2)后,入射到第二个主全息区域(3-2)上,再入射到光谱仪光栅(10)上,光反射回干涉仪(1),形成干涉条纹;干涉仪(1)发出的光入经过衰减片(2)后,入射到第三个主全息区域(3-3)上,再入射到光谱仪光栅(10)上,光反射回到干涉仪(1),形成干涉条纹,调整光栅镜框(7),使得两个主全息区域干涉条纹均为零条纹,确定光栅(10)的位置;

步骤四,将干涉仪(1)发出的光入射到CGH(3)的第三个对准全息区域(3-7),反射后回到干涉仪(1),形成干涉条纹,调整六维调节架(12)使得第三个对准全息区域(3-7)出现零条纹,固定六维调节架(12);干涉仪(1)发出的光入射到第三组基准全息区域(3-10),产生四个像点,调整第三反射镜框(8),使得四个像点与第三反射镜框上标记点重合,初步确定第三反射镜(11)位置;干涉仪(1)发出的光入经过衰减片(2)后,入射到第四主全息区域(3-4)上,再入射到光谱仪第三反射镜(11)上,光反射回到干涉仪(1),形成干涉条纹,调整第三反射镜框(8)使得干涉条纹出现零条纹,确定第三反射镜(11)位置;

步骤五,取下计算全息器件(3),将第二反射镜(15)安装到光谱仪(4)框架上,基于标准球面镜(17)光路自返回原理,根据理论波像差调整第二反射镜框(16)姿态,使得光谱仪系统波像差满足要求,完成第二反射镜(15)的装调。

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