[发明专利]一种基于集成电路的软件测试数据的存储方法及装置在审

专利信息
申请号: 202211481107.3 申请日: 2022-11-24
公开(公告)号: CN115712573A 公开(公告)日: 2023-02-24
发明(设计)人: 刘铁桥 申请(专利权)人: 浙江财经大学东方学院
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 济南智圆行方专利代理事务所(普通合伙企业) 37231 代理人: 张玉琳
地址: 314400 浙江省嘉兴*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 集成电路 软件 测试数据 存储 方法 装置
【说明书】:

本申请公开了一种基于集成电路的软件测试数据的存储方法及装置。包括:接收来自于控制终端发送的测试任务,测试任务包括目标测试需求,以及待进行测试的目标集成电路对应的目标测试标识;利用目标测试标识从测试设备的测试软件库中查询目标集成电路对应的至少一个候选测试软件;根据目标测试需求从候选测试软件中确定目标测试软件;利用目标测试软件对目标集成电路进行测试,得到目标软件测试数据,并将目标软件测试数据进行存储。本申请通过选择与测试任务相匹配的目标测试软件对集成电路进行测试,实现了对集成电路进行自动化测试,不再需要人工手动控制测试。同时对测试结果进行存储,有利于后续依据测试数据对集成电路进行有效维护。

技术领域

本申请涉及软件测试领域,尤其涉及一种基于集成电路的软件测试数据的存储方法及装置。

背景技术

集成电路在批量生产过程中,由于设备运行状态和操作者的人为因素等,不可能保证生产出来的电路板全部都是完好无损的,这就要求在生产的末端加入各种的测试设备和测试流程,以保证出厂的所有实装电路板满足验收条件。

现有的电路板测试都是基于单机式测试,通常需要人员手动设置测试软件的测试参数,并且控制测试工具进行测试,且软件测试数据在测试完后无法记录,在后续维护过程中无法有效利用历史测试数据进行维护。

发明内容

为了解决上述技术问题或者至少部分地解决上述技术问题,本申请提供了一种基于集成电路的软件测试数据的存储方法及装置。

根据本申请实施例的一个方面,提供了一种基于集成电路的软件测试数据的存储方法,应用于测试设备,所述方法包括:

接收来自于控制终端发送的测试任务,其中,所述测试任务包括目标测试需求,以及待进行测试的目标集成电路对应的目标测试标识;

利用所述目标测试标识从所述测试设备的测试软件库中查询所述目标集成电路对应的至少一个候选测试软件;

根据所述目标测试需求从所述候选测试软件中确定目标测试软件;

利用所述目标测试软件对所述目标集成电路进行测试,得到目标软件测试数据,并将所述目标软件测试数据进行存储。

进一步的,所述利用所述目标测试标识从所述测试设备的测试软件库中查询所述目标集成电路对应的至少一个候选测试软件,包括:

利用所述目标测试标识从预设属性信息表中查询所述目标集成电路对应的目标属性信息,其中,所述预设属性信息表包括:测试标识以及属性信息之间的对应关系;

从软件库中获取与所述目标属性信息相匹配的至少一个候选测试软件。

进一步的,所述根据所述目标测试需求从所述候选测试软件中确定目标测试软件,包括:

从所述目标测试需求中获取测试类型以及测试条件;

获取各个候选测试软件对应的软件性能信息,将所述软件性能信息满足所述测试类型以及所述测试条件的候选测试软件确定为目标测试软件。

进一步的,所述利用所述目标测试软件对所述目标集成电路进行测试,得到目标软件测试数据,包括:

从所述目标测试需求中获取多组测试参数,以及所述多组测试参数对应的预期软件测试数据;

利用所述目标测试软件以及所述多组测试参数对所述目标集成电路进行测试,得到初始软件测试数据;

获取所述预期软件测试数据与所述初始软件测试数据之间的差异数据,并获取利用所述差异数据得到的更新后的多组测试参数;

利用所述目标测试软件以及更新后的多组测试参数对所述目标集成电路进行测试,得到目标软件测试数据。

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