[发明专利]一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法

说明书

本发明提供一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法。本发明包括如下步骤：S1、获取电压信号；S2、生成电压数值，并获取补偿系数δ；S3、生成温度数值；S4、温度数值通过终端显示进行显示。本发明通过计算补偿系数，并通过补偿系数δ能够对晶体管测温系统测得的温度数值进行补偿修正，使得测得的温度数值更加准确。

技术领域

本发明涉及晶体管测温领域，更具体的说，它涉及一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法。

背景技术

大功率整流器，是一种用于处理大电流的整流器，能够实现将交流转化为直流，对负载进行供电。

在大功率整流器工作时，由于电流过高，其内部运行温度也较高，而温度过高导致器件损坏是大功率整流器最需要注意的问题之一，所以需要对大功率整流器内部进行温度检测。

目前进行温度检测的方式很多，例如红外测温、晶体管测温、热电偶测温等方式，其中晶体管测温方式是一种常用的非接触式测温方式，但是由于晶体管测温时，其电压与温度转化并不是完美的线性关系，并且测温电路中的电阻也会随温度进行微小的变化，使得晶体管测温过程中存在误差。

发明内容

为了克服现有技术晶体管测温过程中存在误差的缺点，本发明提供一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法。

为了解决上述技术问题，采用如下技术方案，一种晶体管测温系统的误差自动补偿方法，包括如下步骤：

S1：通过晶体管测温电路获取脉冲宽度t；

S2：将脉冲宽度t输入单片机中，单片机根据脉冲宽度t生成电压数值U₁，并根据电压数值U₁从寄存器中获取补偿系数δ；

S3：经过线性变换T＝kU₁+ε+δ生成温度数值T，其中k为温度转化系数，由晶体管决定，ε为零点值，δ为补偿系数；

S4：温度数值T通过终端显示进行显示，实现测温功能。

作为优选的一个方面，所述晶体管测温电路由晶体管、电源、电阻、运算放大器、LM331芯片和计时器组成，晶体管的集电极和基极连接；

所述步骤S1，通过晶体管测温电路获取脉冲宽度具体包括如下步骤：晶体管的正向压经过运算放大器放大后送入LM331芯片中，通过计时器获取LM331芯片引脚3电平变化一个周期的时间，即为脉冲宽度t；

所述步骤S2中，单片机将脉冲宽度t通过F＝1/t转换成频率F，并根据LM331芯片的电压/频率转换规则，输出频率与输入电压成正比，将频率F转换成电压数值U₁。

作为优选的一个方面，晶体管测温系统的调校步骤如下：

A1：将晶体管测温系统放置在0℃的液体介质中，获取此时的电压数值U₀；

A2：将晶体管测温系统放置在100℃的液体介质中，获取此时的电压数值U₁₀₀；

A3：将点(U₀，0)和点(U₁₀₀，100)进行线性拟合，计算k和ε，此时δ＝0。

作为优选的一个方面，所述补偿系数δ的生成包括如下步骤：

B1：将晶体管测温系统放置在分别放置在10℃、20℃、30℃、40℃、50℃、60℃、70℃、80℃和90℃的液体介质中，测得电压数值分别为U₁₀、U₂₀、U₃₀、U₄₀、U₅₀、U₆₀、U₇₀、U₈₀和U₉₀：