[发明专利]一种干涉瑞利散射湍流度测量方法及装置在审

专利信息
申请号: 202211417433.8 申请日: 2022-11-14
公开(公告)号: CN115560948A 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 李猛;陈力;陈爽;闫博;殷一民 申请(专利权)人: 中国空气动力研究与发展中心设备设计与测试技术研究所
主分类号: G01M9/06 分类号: G01M9/06
代理公司: 成都云纵知识产权代理事务所(普通合伙) 51316 代理人: 陈婉鹃;熊曦
地址: 621000 *** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 干涉 瑞利散射 湍流 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.一种干涉瑞利散射湍流度测量方法,其特征在于,包括以下步骤:

根据激光器(1)的波长调谐范围、气体流场(9)的速度范围,确定背景干扰信号和瑞利散射信号的光谱范围;

确定滤波介质(14),所述滤波介质(14)用于滤除背景干扰信号,保留瑞利散射信号;

调谐激光器(1)的输出波长,使激光器(1)输出的激光的中心波长位于滤波介质(14)特征吸收峰的中心位置处;

确定气体流场(9)的测点位置(10),将激光器(1)输出的激光聚焦于测点位置(10)得到瑞利散射信号;

将测点位置(10)的瑞利散射信号收集并整形成平行光后,照射至滤波介质(14);

利用干涉仪(15)将穿过滤波介质(14)的瑞利散射信号形成干涉条纹;

利用探测器(17)采集记录瑞利散射信号经干涉仪(15)形成的干涉条纹;

将探测器(17)采集记录的干涉条纹数据传输至图像处理装置(19),图像处理装置(19)获取干涉条纹相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量;

获取气体流场(9)速度引起的多普勒频移量,得到气体流场(9)湍流度结果。

2.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法,其特征在于,滤波介质(14)为汞,其工作饱和蒸汽压范围为0.001torr-0.445torr。

3.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法,其特征在于,滤波介质(14)为碘,其工作饱和蒸汽压范围为0.43torr-2.4torr。

4.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法,其特征在于,获取参考激光形成的干涉条纹包括以下步骤:

将激光器(1)输出的激光经分光镜(3)分成主光束(5)和次光束(4),主光束(5)在测点位置(10)得到瑞利散射信号;次光束(4)经光纤耦合后照射至干涉仪(15),得到参考激光形成的干涉条纹。

5.根据权利要求4所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法,其特征在于,主光束(5)经透镜(6)聚焦成光束(7),光束(7)的束腰在测点位置(10)处与流场气体作用,产生瑞利散射信号。

6.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法,其特征在于,利用第一收光透镜(16)和探测器(17)采集记录瑞利散射信号经干涉仪(15)形成的干涉条纹。

7.根据权利要求1所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量方法,其特征在于,激光器(1)的线宽≤10kHz,吸收率≥95%。

8.一种干涉瑞利散射湍流度测量装置,其特征在于,包括激光器(1)、分光镜(3)、试验段(8)、滤波介质器(14)、干涉仪(15)、图像处理装置(19);

分光镜(3)用于将激光器(1)输出的激光经分光镜(3)分成主光束(5)和次光束(4);

滤波介质器(14)用于在试验段(8)处理主光束(5)得到瑞利散射信号;

干涉仪(15)用于将穿过滤波介质(14)的瑞利散射信号形成干涉条纹、将次光束(4)形成参考激光的干涉条纹;

图像处理装置(19)用于获取干涉条纹相对于参考激光形成的干涉条纹的位置偏移量,得到试验段(8)中气体流场(9)速度引起的多普勒频移量、气体流场(9)湍流度结果。

9.根据权利要求8所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量装置,其特征在于,滤波介质器(14)中的滤波介质为碘,其工作饱和蒸汽压范围为0.43torr-2.4torr。

10.根据权利要求8所述的一种干涉瑞利散射湍流度测量装置,其特征在于,滤波介质器(14)中的滤波介质为汞,其工作饱和蒸汽压范围为0.001torr-0.445torr。

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