[发明专利]服务器配置的测试方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号: | 202211391666.5 | 申请日: | 2022-11-08 |
| 公开(公告)号: | CN115687134A | 公开(公告)日: | 2023-02-03 |
| 发明(设计)人: | 王栋 | 申请(专利权)人: | 苏州浪潮智能科技有限公司 |
| 主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36;G06F11/34 |
| 代理公司: | 北京润泽恒知识产权代理有限公司 11319 | 代理人: | 苏培华 |
| 地址: | 215000 江苏省苏州市吴*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 服务器 配置 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
1.一种服务器配置的测试方法,其特征在于,包括:
获取针对服务器进行配置的测试任务所对应的基线测试用例,以及所述基线测试用例对应的基线测试用例数据,所述基线测试用例用于对所述测试任务进行描述;
采用所述基线测试用例数据进行计算,获得所述基线测试用例对应的测试成熟度,所述测试成熟度用于表征所述测试任务的稳定程度;
若所述测试成熟度不等于零,则根据所述测试成熟度计算所述基线测试用例对应的当前测试成熟度方差;
获取所述基线测试用例对应的参考测试成熟度方差,并根据所述当前测试成熟度方差与所述参考测试成熟度方差,确定针对所述基线测试用例的目标显示样式,并基于所述目标显示样式对所述基线测试用例进行标记;
显示标记后的基线测试用例以及所述基线测试用例对应的测试成熟度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述当前测试成熟度方差与所述参考测试成熟度方差,确定针对所述基线测试用例的目标显示样式,并基于所述目标显示样式对所述基线测试用例进行标记,包括:
若所述当前测试成熟度方差小于或等于所述参考测试成熟度方差,则确定针对所述基线测试用例的目标显示样式为第一预设显示样式,并以所述第一预设显示样式对所述基线测试用例进行标记;
若所述当前测试成熟度方差大于所述参考测试成熟度方差,则确定针对所述基线测试用例的目标显示样式为第二预设显示样式,并以所述第二预设显示样式对所述基线测试用例进行标记。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
若所述测试成熟度等于零,则从所述基线测试用例数据中提取测试用例引用次数;
若所述测试用例引用次数等于零,则确定针对所述基线测试用例的目标显示样式为第三预设显示样式,并以所述第三预设显示样式对所述基线测试用例进行标记;
若所述测试用例引用次数不等于零,则确定针对所述基线测试用例的目标显示样式为第四预设显示样式,并以所述第四预设显示样式对所述基线测试用例进行标记。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基线测试用例数据包括错误发生平均次数、各个类型错误的错误发生频率、各个类型错误的严重等级,所述采用所述基线测试用例数据进行计算,获得所述基线测试用例对应的测试成熟度,包括:
采用所述错误发生平均次数、各个类型错误的所述错误发生频率以及各个类型错误的所述严重等级进行计算,获得所述基线测试用例对应的测试成熟度。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,还包括:
获取所述基线测试用例对应的错误发生次数、测试用例引用次数、各个类型错误的发生概率系数、各个类型错误的发生次数、各个类型错误的严重等级系数、各个类型错误的发生次数;
采用所述错误发生次数以及所述测试用例引用次数进行计算,获得错误发生平均次数;
采用所述错误发生次数、各个类型错误的所述发生概率系数以及各个类型错误的所述发生次数进行计算,获得各个类型错误的错误发生频率;
采用所述错误发生次数、各个类型错误的所述严重等级系数以及各个类型错误的所述发生次数进行计算,获得各个类型错误的严重等级;
将所述错误发生平均次数、各个类型错误的错误发生频率、各个类型错误的严重等级作为所述基线测试用例对应的基线测试用例数据。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,还包括:
响应于针对所述测试任务的基线测试用例库建立操作,新建一个与所述测试任务对应的基线测试用例库;
将所述基线测试用例以及所述基线测试用例数据存储至所述基线测试用例库。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述基线测试用例数据包括所述基线测试用例在不同测试阶段的历史测试成熟度,所述方法还包括:
采用各个所述历史测试成熟度进行计算,获得所述基线测试用例对应的测试成熟度方差。
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