[发明专利]一种超大规模红外探测器测试杜瓦

权利要求书

1.一种超大规模红外探测器测试杜瓦，其特征在于，包括：真空系统、制冷系统、测控温系统和黑体系统；

真空系统，用于提供测试所需的真空环境；

制冷系统，用于为探测器提供安装平台、低温冷源和低温冷背景环境；

测控温系统，用于监测各部件温度、控制制冷系统温度；

黑体系统，用于为探测器的光电性能测试提供信号源。

2.根据权利要求1所述的超大规模红外探测器测试杜瓦，其特征在于，真空系统，包括：真空腔体前封头(1)、真空规管(2)、离子泵(3)、真空闸板阀(4)、真空腔体中段(5)、真空腔体后段(6)、真空腔体后封头(9)、探测器接插件法兰(10)、支撑架(11)、分子泵(12)、波纹管(13)、机械泵(14)、分子泵控制器(15)、真空显示单元(16)、离子泵控制器(17)、安装平台(19)和直线导轨(20)；

真空腔体前封头(1)、空腔体中段(5)和真空腔体后段(6)分别焊接在支撑架(11)上，支撑架(11)与直线导轨(20)固连，直线导轨(20)与安装平台(19)固连；

真空腔体后封头(9)和探测器接插件法兰(10)分别固连在真空腔体后段(6)；

机械泵(14)的抽口与分子泵(12)的入口通过波纹管(13)连接，分子泵(12)的抽口与真空腔体后段(6)密封连接；

真空闸板阀(4)一侧安装离子泵(3)，另一侧与真空腔体中段(5)密封连接；

真空规管(2)安装在真空腔体中段(5)上；

分子泵控制器(15)、真空显示单元(16)和离子泵控制器(17)均安装至安装平台(19)前面板上。

3.根据权利要求2所述的超大规模红外探测器测试杜瓦，其特征在于，制冷系统，包括：两级G-M制冷机(7)、制冷机隔振单元(8)、冷平台冷链(21)、冷屏冷链(23)、二级冷屏A(24)、双足支撑(25)、冷平台(26)、拼接探测器阵列(27)、二级冷屏B(28)、探测器冷屏(29)、冷平台支撑法兰(34)、冷平台过渡法兰(35)、冷平台冷链隔热支架(36)和二级冷屏支撑耳(37)；

双足支撑(25)一端通过冷平台过渡法兰(35)与冷平台(26)固连，另一端通过冷平台支撑法兰(34)与真空腔体后段(6)固连；

两级G-M制冷机(7)通过制冷机隔振单元(8)安装在真空腔体后段(6)上；冷平台冷链(21)固定在冷平台冷链隔热支架(36)上，冷平台冷链隔热支架(36)与冷平台支撑法兰(34)固连；

两级G-M制冷机(7)的二级冷头与冷平台(26)之间通过冷平台冷链(21)进行热连接，两级G-M制冷机(7)的一级冷头与二级冷屏A(24)之间通过冷屏冷链(23)进行热连接；

二级冷屏A(24)与二级冷屏支撑耳(37)固连，二级冷屏支撑耳(37)与真空腔体后段(6)固连；二级冷屏B(28)固连至二级冷屏A(24)；

探测器冷屏(29)固连至冷平台(26)，拼接探测器阵列(27)与冷平台(26)导热连接。

4.根据权利要求3所述的超大规模红外探测器测试杜瓦，其特征在于，测控温系统，包括：二级冷头加热块(22)、一级冷头加热块(38)、控温仪(39)和测温仪(40)；

控温仪(39)和测温仪(40)安装在安装平台(19)前面板上；

一级冷头加热块(38)与冷屏冷链(23)热连接；

二级冷头加热块(22)与冷平台冷链(21)热连接。

5.根据权利要求1所述的超大规模红外探测器测试杜瓦，其特征在于，黑体系统，包括：单级G-M制冷机(18)、变温黑体(30)、黑体冷链(31)、黑体冷屏(32)和一级冷屏冷链(33)；

单级G-M制冷机(18)与变温黑体(30)之间通过黑体冷链(31)进行热连接；

一级冷屏(32)隔热固连至真空腔中段(5)，并通过一级冷屏冷链(33)与单级G-M制冷机(18)进行热连接；

变温黑体(30)固连至真空腔中段(5)。