[发明专利]一种全自动Demura调参补偿优化方法及系统

说明书

本发明提供了一种全自动Demura调参补偿优化方法及系统，该方法包括以下步骤：步骤1，采集待补偿屏幕亮度数据；步骤2，通过IC端提供的数据协议生成补偿数据，并将所生成的补偿数据写入屏幕FLash中；步骤3，采集补偿后屏幕的亮度数据；步骤4，对Mura评估系统进行评估，如果评估通过，则全自动Demura调参结束，如果评估未通过，则执行步骤5；步骤5，全自动调参系统训练；步骤6，更新Demura系统参数；步骤7，更新待补偿屏幕亮度数据，然后返回步骤2。本发明的有益效果是：本发明实现了调试的闭环，降低了Demura系统调试时间，提高了Demura的补偿良率，极大降低了车间生产成本。

技术领域

本发明涉及显示面板技术领域，，尤其涉及一种全自动Demura调参补偿优化方法及系统。

背景技术

在随着信息显示技术的不断发展，显示屏幕如LCD、AMOLED、MINILED等市场需求量不断增加，给相应面板供应商提出了更大的生成挑战。出货良率与出货节拍进一步优化已经成为首要解决的问题。其中Demura工站极大的提高了车间屏幕的显示画质，提高了屏幕产出良率，设备主要工艺如下：使用高精度工业相机采集屏幕相应亮度数据，经过Demura算法系统计算补偿值，在采用信号发射器PG将数据烧录写入屏幕Flash中。但是由于面板厂商生产机种多，如曲面屏幕、挖空屏幕、滴水屏幕等等，其不同机种屏幕显示画质程度受限于工艺、工序、原材料等影响，显示各异，根据实际Mura的不同及其IC算法库等差异，一种快速、高效的Demura切机换型及其效果优化的方案显得极为重要。

发明内容

本发明提供的是一种解决产品换型快、差异大、调试过程复杂化等问题的全自动Demura调参补偿优化方法，通过采集补偿前后的屏幕亮度数据、对亮度数据中的Mura进行量化评估，采用梯度下降法求解参数，实现了针对不同机种、不同显示Mura补偿调试的自动化流程，提高了换型、调试等过程的效率。

本发明提供了一种全自动Demura调参补偿优化方法，包括以下步骤：

步骤1，采集待补偿屏幕亮度数据；根据待修复屏幕信息，生成对应定位图及其灰阶图，采集对应图像，经过Demura算法系统实现R、G、B亚像素定位、亚像素亮度提取。

步骤2，通过IC端提供的数据协议生成补偿数据，并将所生成的补偿数据写入屏幕FLash中。

步骤3，采集补偿后屏幕的亮度数据。

步骤4，Mura评估系统对步骤3中的亮度数据进行量化评估，如果评估通过，则全自动Demura调参结束，如果评估未通过，则执行步骤5。

步骤5，全自动调参系统训练。

步骤6，更新Demura系统参数。

步骤7，更新待补偿屏幕亮度数据，然后返回步骤2。

作为本发明的进一步改进，在所述步骤1中，还包括：

步骤S1，根据IC算法模块需求及待修复屏幕信息生成对应定位图及其灰阶图。

步骤S2，采用工业相机采集对应定位图及其灰阶图。

步骤S3，根据Demura相关参数，经过Demura算法模型，实现R、G、B亚像素级定位，然后通过成像原理根据PSF模型，进行反卷积运算，获取R、G、B亚像素亮度数据。

作为本发明的进一步改进，在所述步骤S1中，待修复屏幕信息包括R、G、B逻辑分辨率、PG打图分辨率、SPR映射关系；在所述步骤S3中，Demura相关参数包括分辨率、屏幕类型。

作为本发明的进一步改进，在所述步骤2中，经过IC端提供的数据协议生成对应的补偿数据bin文件，并将补偿数据bin文件通过信号发射器PG、硬件通讯协议写入屏幕FLash中。