[发明专利]一种测厚能力验证试块

说明书

本发明涉及超声测厚领域，具体涉及一种测厚能力验证试块。包括圆管测厚单元、封闭结构和圆柱测厚单元，所述圆管测厚单元包括一圆管，所述圆管沿轴向设有若干不同壁厚的环形区段，且环形区段的壁厚不可从圆管外侧直接测得；所述封闭结构包括能够封堵圆管两端的上端盖和下端盖，所述上端盖上设有至少一个通孔；所述圆柱测厚单元设置在圆管内部，其包括与通孔数量相等的至少一个圆柱，圆柱的上端插接在所述通孔内、下端与下端盖相连接。本发明提供一种能够有效测试和验证仪器及人员的测厚能力的验证试块。

技术领域

本发明涉及超声测厚领域，具体涉及一种测厚能力验证试块。

背景技术

超声波测厚是利用超声波测厚仪对已知或未知厚度的工件进行厚度测量，该技术在无损检测技术中已被广泛应用。

在超声波测厚的过程中，测厚仪及人员及技术水平对测厚的结果有直接影响。现有技术中，为了测试和验证仪器及人员的测厚能力，一般采用两种方式进行：一、将操作者集中，采用测厚验证试块进行现场验证，整个验证过程由监督人员全员监督；二、将测厚验证试块邮寄给各操作者或机构，操作者将自行测量将结果反馈至验证考核机构。

以上两种方式存在如下问题：一、测厚验证试块的形状、结构操作者可见，一些基础信息变相传递给了操作者，同时集中考核验证时人员集中，工作量较大；二、邮寄的方式缺少了人员监督，操作者有可能通过其他测量工具得到准确的结果信息，影响了验证结果的公平公正；三、为避免基础信息的泄露，将测厚验证试块粘贴或固定到其他物体上，当测量结果有异议时无法将验证试块拆卸进行结果校对；四、为了得到多个结果，保证结果的可观公正，测厚验证试块需要多件，例如需要有具有弧形面的试块，也需要有具有平面的试块，造成了试块的规格数量多，使用不方便。因此，需要一种新的测厚验证试块来解决上述问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对现有技术的上述不足，提供一种能够有效测试和验证仪器及人员的测厚能力的验证试块。

一种测厚能力验证试块，其特征在于，包括圆管测厚单元、封闭结构和圆柱测厚单元，

所述圆管测厚单元包括一圆管，所述圆管沿轴向设有若干不同壁厚的环形区段，且环形区段的壁厚不可从圆管外侧直接测得；

所述封闭结构包括能够封堵圆管两端的上端盖和下端盖，所述上端盖上设有至少一个通孔；

所述圆柱测厚单元设置在圆管内部，其包括与通孔数量相等的至少一个圆柱，圆柱的上端插接在所述通孔内、下端与下端盖相连接。

优选的，所述圆管沿轴向设有若干壁厚依次增大或依次减小的环形区段且圆管外壁为光滑面。

优选的，所述上端盖和下端盖通过防拆卸结构连接。

优选的，所述防拆卸结构包括异形头螺杆，上端盖的内端设有盲孔、下端盖上设有通孔，异形头螺杆的一端穿设在通孔内、另一端螺接在盲孔内。

优选的，上端盖通孔内设有防止圆柱向上脱出的限位结构。

优选的，所述限位结构为内倒角，圆柱的上端设有与所述内倒角相匹配的外倒角。

优选的，当圆柱的数量不止一个时，若干圆柱的长度不一。

优选的，所述圆柱的下端通过升降机构与下端盖相连接，所述升降机构包括升降套筒、托架和调节螺杆，升降套筒包括矩形外筒和滑动式的插接矩形外筒内的矩形柱体，托架设置在矩形柱体的上端，调节螺杆的一端通过轴承转动式的连接在下端盖内、另一端螺接在矩形柱体的下端，矩形外筒的下端与下端盖固定连接。

优选的，所述圆柱的高度小于圆筒高度的二分之一。

优选的，所述上端盖上以圆周阵列的方式设有6个通孔，相应的圆柱为6个，圆柱的高度范围为5mm~100mm。

本发明的有益效果是：