[发明专利]一种平板探测器信号串扰校正装置及方法

权利要求书

1.一种平板探测器信号串扰校正装置，包括X射线源、平板探测器，其特征在于，还包括设置在所述平板探测器与X射线源之间、紧贴平板探测器放置的校正单元；

所述校正单元包括环形刻度盘(1)、旋转组件(2)、长方形金属薄片(3)，所述旋转组件(2)的旋转中心轴与环形刻度盘(1)中心轴线重合，所述长方形金属薄片(3)固定安装在所述旋转组件(2)上；

所述圆环形刻度盘(1)上刻有角度标识(4)，所述旋转组件(2)可沿环形刻度盘(1)中心轴线进行360°旋转，所述旋转组件(2)上设置有位置指针(201)，所述长方形金属薄片(3)的测量边(301)与所述位置指针(201)中心重合，且所述测量边(301)的旋转中心位于所述圆环形刻度盘(1)的中心轴线上。

2.一种平板探测器信号串扰校正方法，其特征在于，采用权利要求1所述的平板探测器信号串扰校正装置，具体步骤为：

1)装置初始化：将所述校正单元固定在平板探测器中心位置，使圆环形刻度盘(1)上0°位置对准垂直方向或水平方向，并使位置指针(201)指向0°位置；

2)参数初始化：预设用于信号串扰去除的反卷积校正方阵的阶数N，计算需要的测量的次数M以及旋转组件(2)相应的单次旋转角度a；

3)投影图像采集：将旋转组件(2)旋转角度a/2，进行X射线成像测试，获得校正装置的第一投影图像，再依次将旋转组件(2)旋转角度a，每一旋转后均进行X射线成像测试，获得第二至第M投影图像；

4)计算线扩散向量：计算第一至第M投影图像线扩散向量Y_m(i)，其中：(i＝1,2...K,m＝1,2...M)；

5)计算校正方阵：采用线扩散向量Y_m(i)，通过迭代计算获得反卷积校正方阵；

6)串扰校正：采用反卷积校正方阵对投影图像进行反卷积，完成平板探测器投影图像的信号串扰校正。

3.如权利要求2所述的一种平板探测器信号串扰校正方法，其特征在于，步骤2)中信号串扰反卷积校正方阵的阶数N为奇数，可通过观察平板探测器X射线成像图像的边缘灰度变化进行预设，其测量的成像次数M，其中M为360的约数，不小于方阵阶数N，旋转角度a为：

a＝360/M (1)。

4.如权利要求2所述的一种平板探测器信号串扰校正方法，其特征在于，步骤3)中投影图像采集的具体步骤为：

3-1)将旋转组件(2)旋转角度a/2，X射线出束，获得校正装置的第一投影图像；

3-2)将旋转组件(2)旋转角度a，X射线出束，获得校正装置的第m投影图像；

3-3)重复步骤3-2)，直到m＝M，获得第二至第M投影图像。

5.如权利要求2所述的一种平板探测器信号串扰校正方法，其特征在于，步骤4)中计算第一至第M投影图像线扩散向量的具体步骤为：

4-1)将第一至第M投影图像反向插值旋转角度a/2+ja，(j＝0,1,2,...M-1)，使第一至第M投影图像与金属薄片处于0位置时的投影图像相同；

4-2)选取图像中心一定感兴趣区域，沿长方形金属薄片测量边(301)边缘绘制多条边缘响应曲线后求均值，得到平均边缘响应曲线，平均边缘响应曲线求导得到线扩散响应曲线，按像元尺寸在曲线中心选择K个点，得到Y_m(i),(i＝1,2...K,m＝1,2,...M)，其中：K为奇数。