[发明专利]一种软错误电路检测系统

权利要求书

1.一种软错误电路检测系统，其特征在于：主要通过分析D触发器软错误发生的时间与位置，从而在关键路径上检测D触发器是否发生了软错误，在分析D触发器软错误发生的时间与位置时，D触发器的数据从D到Q的锁存过程中，中间经历了2次LATCH锁存。当有高能粒子辐射到D触发器上时，只有打在栅电极的高能粒子能改变pmos/nmos的导通/关闭状态，从而改变电容上存储电荷，以至于改变D触发器存储的0/1数值，在CK＝1时，LATCH0中的RS触发器应处于保持状态，如果这时有高能粒子改变LATCH0的栅电容时，就会有瞬态电流经过电源和地线，对Dn端电容进行充放电，这时LATCH1正处于数据锁存状态,将Dn的值复制到Q端，如果Dn的值异常改变，LATCH1就会锁存到错误数据，从而导致D触发器的重要信息出现错误。

2.根据权利要求1所述的一种软错误电路检测系统，其特征在于：所述LATCH锁存存在两次。第一次锁存发生在ck为低电平期间，数据由D端锁存到Dn端。Dn端如果数据发生改变，则电容会发生充电或放电，充电时，有瞬态电流从L0的电源到Dn端；放电时，有瞬态电流从Dn端到L0的地端。

3.根据权利要求2所述的一种软错误电路检测系统，其特征在于：第二次锁存，发生在ck为高电平期间，数据由Dn端锁存到Q端。Q端如果数据发生改变，则电容会发生充电或放电，充电时，有瞬态电流从LATCH1的电源到Q端；放电时，有瞬态电流从Q端到LATCH1的地端。

4.根据权利要求2所述的一种软错误电路检测系统，其特征在于：CK＝1时，Dn电容上的数值异常改变为软错误发生状态。

5.根据权利要求4所述的一种软错误电路检测系统，其特征在于：所述Dn电容上的数值处于软错误发生状态下，会有电流从LATCH0的电源或地对Dn电容进行充放电。

6.根据权利要求4所述的一种软错误电路检测系统，其特征在于：在CK＝1时，LATCH0应处于数据保持状态，这时检测LATCH0的电源或地的异常充放电电流，可探测Dn端是否发生软错误翻转。同理，CK＝1时，Q电容上的数值异常改变为软错误发生状态。

7.根据权利要求6所述的一种软错误电路检测系统，其特征在于：所述Q电容上的数值处于软错误发生状态，该状态下会有电流从LATHC1的电源或地对Q电容进行充放电。因此在CK＝0时，检测LATCH1的电源或地的充放电电流，可探测Q端是否发生软错误翻转。