[发明专利]测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质

说明书

本发明公开了一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括：获取与待测试应用相对应的生产运维数据，并确定与待测试应用对应的至少一个待使用测试用例；基于当前测试输入项的待处理测试等价类集，以及与当前测试输入项相匹配的目标配置输入项的已用等价类集，确定与当前测试输入项对应的待使用测试等价类集；基于相应测试输入项所对应的待使用测试等价类集和待处理测试等价类集，得到测试输入项对应的目标测试等价类集；基于与待使用测试用例对应的各测试输入项的目标测试等价类集，得到目标测试用例。解决了现有技术中基于风险确定测试项，导致测试不全面和测试效果差的问题，实现提高测试的全面性，达到提高测试效果的效果。

技术领域

本发明涉及计算机处理技术领域，尤其涉及一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质。

背景技术

目前，不管是已上线产品和未上线产品均会涉及到对产品进行测试，通过测试不断优化产品的性能，在此过程中，会涉及到为产品选择哪些测试项进行测试。

现有的测试项选择的方法通常通过识别出待测产品存在哪些风险，基于风险确定出需要选择哪些测试项进行风险测试。但是在实际项目测试的过程中，往往由于系统复杂、功能繁多，人力资源有限，时间周期较短等因素，导致测试用例设计缺失，造成测试效果差的问题；或者，测试用例太多，导致无法全部执行，进而导致测试不充分的问题。

发明内容

本发明提供了一种测试用例生成方法、装置、电子设备及存储介质，以实现在保证测试要求的同时，提高测试的全面性，达到提高测试效果的技术效果。

根据本发明的一方面，提供了一种测试用例生成方法，该方法包括：

获取与待测试应用相对应的生产运维数据，并确定与所述待测试应用对应的至少一个待使用测试用例；其中，所述生产运维数据中包括至少一个待使用配置输入项以及各待使用配置输入项所对应的已用等价类集，所述待使用测试用例中包括至少一个测试输入项以及各测试输入项所对应的待处理测试等价类集；

对于各测试输入项，基于当前测试输入项所对应的待处理测试等价类集，以及与所述当前测试输入项相匹配的目标配置输入项的已用等价类集，确定与所述当前测试输入项对应的待使用测试等价类集；其中，所述待使用测试等价类集中包括待调整测试等价类和待补充已用等价类；

基于相应测试输入项所对应的待使用测试等价类集和待处理测试等价类集，得到所述测试输入项对应的目标测试等价类集；

基于与所述待使用测试用例对应的各测试输入项所对应的目标测试等价类集，得到与所述待测试应用相对应的目标测试用例。

根据本发明的另一方面，提供了一种测试用例生成装置，该装置包括：

待使用测试用例确定模块，用于获取与待测试应用相对应的生产运维数据，并确定与所述待测试应用对应的至少一个待使用测试用例；其中，所述生产运维数据中包括至少一个待使用配置输入项以及各待使用配置输入项所对应的已用等价类集，所述待使用测试用例中包括至少一个测试输入项以及各测试输入项所对应的待处理测试等价类集；

待使用测试等价类集确定模块，用于对于各测试输入项，基于当前测试输入项所对应的待处理测试等价类集，以及与所述当前测试输入项相匹配的目标配置输入项的已用等价类集，确定与所述当前测试输入项对应的待使用测试等价类集；其中，所述待使用测试等价类集中包括待调整测试等价类和待补充已用等价类；

目标测试等价类集确定模块，用于基于相应测试输入项所对应的待使用测试等价类集和待处理测试等价类集，得到所述测试输入项对应的目标测试等价类集；

目标测试用例确定模块，用于基于与所述待使用测试用例对应的各测试输入项所对应的目标测试等价类集，得到与所述待测试应用相对应的目标测试用例。

根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：