[发明专利]一种雷达数据采集方法、装置及系统在审

专利信息
申请号: 202211265140.2 申请日: 2022-10-17
公开(公告)号: CN115480230A 公开(公告)日: 2022-12-16
发明(设计)人: 任群亭;武自卫;荆惠连;白杨;吕鸣;候浩浩 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01S7/41 分类号: G01S7/41
代理公司: 北京格允知识产权代理有限公司 11609 代理人: 周娇娇
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 雷达 数据 采集 方法 装置 系统
【说明书】:

发明提供了一种雷达数据采集方法、装置及系统,该方法包括:接收雷达采样请求;根据雷达采样请求获取雷达的接收机动态范围和采样位数,并确定衰减器的步进;衰减器的步进小于接收机动态范围与采样位数的比值;根据步进和雷达的分辨率,确定衰减器的预设衰减范围;其中,预设衰减范围中包括若干个衰减值,且预设衰减范围的极差值与雷达的分辨率相等;基于衰减器在预设衰减范围内按衰减值由低至高的扫描模式,利用雷达对待采样目标进行RCS测试,完成衰减周期测试,得到目标回波信号。本方案提供的雷达数据采集方法能够在不改变原有雷达结构的前提下提高ADC采样位数较少的雷达的采样精度。

技术领域

本发明实施例涉及电磁散射技术领域,特别涉及一种雷达数据采集方法、装置及系统。

背景技术

雷达现在已被广泛应用于现实生活场景中,比如汽车雷达、海事雷达、民用飞机雷达等。然而这些雷达和电磁散射测试雷达的主要区别在于,前者工作在特定频段,带宽较窄,且ADC采样位数较少,采样精度低,进而会影响雷达测试结果。

因此,目前亟需一种雷达数据采集方法以提高ADC采样位数较少的雷达的采样精度。

发明内容

本发明实施例提供了一种雷达数据采集方法、装置及系统,该雷达数据采集方法能够在不改变原有雷达结构的前提下,提高ADC采样位数较少的雷达的采样精度。

第一方面,本发明实施例提供了一种雷达数据采集方法,包括:

接收雷达采样请求;

根据所述雷达采样请求获取雷达的接收机动态范围和采样位数,并确定衰减器的步进;所述衰减器的步进小于所述接收机动态范围与所述采样位数的比值;

根据所述步进和所述雷达的分辨率,确定所述衰减器的预设衰减范围;其中,所述预设衰减范围中包括若干个衰减值,且所述预设衰减范围的极差值与所述雷达的分辨率相等;

基于所述衰减器在所述预设衰减范围内按衰减值由低至高的扫描模式,利用所述雷达对待采样目标进行RCS测试,完成衰减周期测试,得到目标回波信号。

可选地,在所述基于所述衰减器在所述预设衰减范围内按衰减值由低至高的扫描模式,利用所述雷达对待采样目标进行RCS测试之前,在所述接收雷达采样请求之后,还包括:

对所述雷达进行定标测试;其中,所述定标测试包括地面定标、空中定标。

可选地,所述预设衰减范围为[0,Ns];其中,N用于表征所述预设衰减范围中非零衰减值的个数,s用于表征所述衰减器的步进。

可选地,Ns用于表征所述雷达的分辨率。

可选地,所述预设衰减范围中相邻衰减值之间的差值为所述步进。

可选地,所述雷达的采样位数低于12bit。

可选地,所述基于所述衰减器在所述预设衰减范围内按衰减值由低至高的扫描模式,利用所述雷达对待采样目标进行RCS测试,完成衰减周期测试,得到目标回波信号,包括:

在衰减值为0时,利用所述雷达对待采样目标进行RCS测试,得到初始回波信号;

将所述衰减器的衰减值赋值为第一衰减值,利用所述雷达对所述待采样目标进行RCS测试,得到测试回波信号;其中,记录当前赋值次数为n,所述第一衰减值为所述当前赋值次数与所述步进的乘积;

判断所述初始回波信号是否大于所述测试回波信号;

若判断结果为否,则确定赋值次数为n+1,并返回执行将所述衰减器的衰减值赋值为第一衰减值,且将所述当前赋值次数更新为n+1;

若判断结果为是,则完成所述衰减周期测试,得到目标回波信号。

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