[发明专利]一种输出信号翻转时间测量方法、装置及测试台

说明书

本发明公开了电路性能指标检测技术领域的一种输出信号翻转时间测量方法、装置及测试台。方法包括：检测输出信号的信号幅度；根据检测到的信号幅度，设定输出信号翻转时间的边界，并计算边界处的比较参考电压；将边界处的比较参考电压输入比较器模块，生成通过边界处的比较参考电压进行表征的脉冲信号；统计脉冲信号的宽度作为输出信号翻转时间。本发明既能完成输出信号电平翻转时间的快速测量，又方便与MCU控制的数据采集模块测试系统融合，自动完成信号翻转时间的测量。

技术领域

本发明属于电路性能指标检测技术领域，具体涉及一种输出信号翻转时间测量方法、装置及测试台。

背景技术

集成电路指标中经常包含输出信号翻转时间（上升、下降速度）指标，一方面是电路的性能指标检测要求；另一方面，当集成电路生产过程中出现人为原因导致组装错误，或者工艺缺陷，往往会导致某些输出信号的翻转时间发生变化，此时也需要通过测量输出端子的电平翻转时间，剔除因加工原因造成缺陷的产品。测量输出端子的电平翻转时间通常是测量其上升沿或下降沿时间。另外，除了输出信号翻转时间指标外，集成电路指标中通常还包含几十项其它特性指标参数需要测试。为了适应高、低温环境下快速高效测试要求，研制专用自动测试台对产品技术参数进行测试和记录。

自动测试台通常有两种方案：1）采用计算机控制通用测试仪器设计；2）MCU直接读取数据采集模块采集数据设计。其中计算机控制的通用测试仪器测量相应时间较长，对于30项或更多参数的测试，往往需要20秒以上的时间才能完成所有参数测试，无法适应高低温下快速测试要求。因此，对于测试项目较多，需要进行高、低温测试时，通常采用MCU控制数据采集模块设计自动测试台。然而，当采用MCU控制数据采集模块设计自动测试台时，往往难以处理输出信号电平翻转时间的测量。

发明内容

为解决现有技术中的不足，本发明提供一种输出信号翻转时间测量方法、装置及测试台，既能完成输出信号电平翻转时间的快速测量，又方便与MCU控制的数据采集模块测试系统融合，自动完成信号翻转时间的测量。

为达到上述目的，本发明所采用的技术方案是：

第一方面，提供一种输出信号翻转时间测量方法，包括：检测输出信号的信号幅度；根据检测到的信号幅度，设定输出信号翻转时间的边界，并计算边界处的比较参考电压；将边界处的比较参考电压输入比较器模块，生成通过边界处的比较参考电压进行表征的脉冲信号；统计脉冲信号的宽度作为输出信号翻转时间。

进一步地，所述检测输出信号的信号幅度，具体为：设被测产品接收到的激励信号为Vi，对应的输出信号为Vo，设定Vi与Vo同相；向被测产品输入低电平激励信号Vi，对应的输出信号Vo为低电平信号，测得低电平信号的信号幅度为V_L；向被测产品输入高电平激励信号Vi，对应的输出信号Vo为高电平信号，测得高电平信号的信号幅度为V_H。

进一步地，所述根据检测到的信号幅度，设定输出信号翻转时间的边界，并计算边界处的比较参考电压，具体为：设定信号幅度10%～90%之间变化所需要的时间为翻转时间，则信号幅度10%与信号幅度90%对应输出信号翻转时间的边界；边界处的比较参考电压，通过以下公式计算：

V_0.1=（V_H-V_L）×0.1+V_L （1）

V_0.9=（V_H-V_L）×0.9+V_L （2）