[发明专利]一种中子注量响应的确定方法

权利要求书

1.一种中子注量响应的确定方法，其特征在于，包括：

获取待确定中子注量响应的中子能谱，基于所述中子能谱确定中子在第一靶物质中的平均径迹长度，并获取所述平均径迹长度对应中子的目标能量范围，所述第一靶物质为与所述中子发生核反应的同位素对应的靶物质；

获取所述中子和与所述中子发生核反应的同位素对应的目标截面数据；

确定所述目标能量范围中的最大能量值和最小能量值；

基于所述最大能量值、所述最小能量值、所述平均径迹长度和所述目标截面数据，确定所述中子注量响应。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述最大能量值、所述最小能量值、所述平均径迹长度和所述目标截面数据，确定所述中子注量响应，包括：

获取所述第一靶物质的体积，基于所述第一靶物质的体积确定所述第一靶物质中同位素的个数；

获取所述中子对应中子束的平面源的半径；

基于所述平均径迹长度、所述目标截面数据、所述第一靶物质的体积、所述同位素的个数、所述平面源的半径、所述最小能量值和最大能量值，确定所述中子注量响应。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待确定中子注量响应的中子能谱，包括：

利用质子和所述质子对应的第二靶物质进行核反应，获得所述待确定中子注量响应的中子能谱。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述中子能谱确定中子在第一靶物质中的平均径迹长度，包括：

将所述中子能谱输入Fluka程序，获得所述中子的径迹长度；

获取所述第一靶物质的体积；

将所述径迹长度与所述第一靶物质的体积的比值，确定为所述中子在第一靶物质中的平均径迹长度。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，获取所述中子和与所述中子发生核反应的同位素对应的目标截面数据，包括：

获取所述中子和与所述中子发生核反应的同位素对应的截面文件；

利用Njoy程序获取所述截面文件中与所述中子发生核反应产生目标粒子对应的反应道的第一能量范围；

从所述第一能量范围中获取与所述目标能量范围对应的参考截面数据；

将所述参考截面数据确定为所述目标截面数据。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

基于所述中子中发生核反应的目标中子，确定所述目标中子对应的计数率；

确定所述计数率与所述中子注量响应的比值，将所述计数率与所述中子注量响应的比值确定为所述中子的注量率。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述确定目标中子对应的计数率，包括：

获取所述中子与所述同位素发生核反应后得到的脉冲幅度谱，以及所述脉冲幅度谱的观测时长；

获取所述脉冲幅度谱中各个幅值的计数值，将所述各个幅值的总计数值确定为目标中子的总数目；

将所述总数目与所述观测时长的比值确定为所述目标中子对应的计数率。