[发明专利]多通道依次采样电流的延时时间的确定方法、程序和电路

说明书

本发明适用于电子元器件测试技术领域，尤其是涉及多通道依次采样电流的延时时间的确定方法、程序和电路。本发明将待测电子元器件设置于N个检测通道中，基于第1检测通道采集的电流值，以及电流采样电路对第1检测通道进行采样后的放电时间为基准，通过前一通道采样的电流值来计算下一通道的延时时间，从而实现了整个采样过程中不同检测通道施加的延时电流变化，在保证了每个检测通道采样准确度高的同时，缩减了整个测试过程所需要的时间。同时，由于测试时间缩短，电子元器件离开老炼加热炉的时间缩短，热耗散减少，也降低了整个老炼试验的能耗。

技术领域

本发明涉及电子元器件测试技术领域，尤其是涉及一种多通道依次采样电流的延时时间的确定方法、程序和电路。

背景技术

当前，电子技术高速发展，电子产品作为系统的核心、重要组成部分广泛应用于航空、航天、船舶、兵器、民用工业等各行各业。同时，随着复杂的使用要求和工况的不断涌现，对电子设备整机的精度和可靠性要求越来越高，因而，需要在电路中应用高质量、高精度、高可靠的电子元器件。

由于电子元器件在制造过程中可能由于工艺、材料、外部影响、人为因素等原因，在出厂之后存在个别或批次性的潜在缺陷，而导致直接在装联到整机上之后，会对产品的使用存在隐患或产生影响。因而对电子元器件早期失效的筛选工作尤为重要。

现有技术中一般采用老炼的方法筛选出早期失效的电子元器件，通过老炼过程中测试电子元器件的漏电流，当漏电流大于设定值时，判定为该电子元器件失效。同时，为了提高检测效率，通常对电子元器件进行批量老化和批量测试，测试电路如图1所示，为了降低测量设备的成本，通常只采用一个电流采样电路，依次连接到多个通道中测量多个电子元器件的漏电流。图中，检测通道包括L₁到L_N，共N条检测通道，每个检测通道连接一个开关K，K₁到K_N分别对应于第1到第N条检测通道，电流采样电流分别通过开关K₁到K_N依次与其上的待测电子元器件连接，以采集该通道内的电子元器件的漏电流。采样电阻R两端连接放大电路等，通过采集到的Vout和已知的R值计算电流值。

然而，当电流电流采样电路连接到测量电路中时，电路稳定需要一定的时间，即需要设定一定的延时进行采样。现有技术中，一般根据经验设定一个固定的延时时间，如此却存在以下技术问题：

1）.延时时间不够，使得采样电流不准确；

2）.延时时间过长，导致测试整体时间偏长。由于老炼过程中需要将加热的电子元器件从加热设备中取出进行电流测试，测试的时间越长，电子元器件的热耗散越大，放回到老炼设备中后所需的加热能量越多，如此造成能耗增加。

发明内容

为了解决现有技术的不足，本发明的提供一种多通道依次采样电流的延时时间的确定方法，能够在测试过程中根据测试的情况实时调整延时时间，以在保证测试结果准确的基础上，缩短测试所需时间，尽可能减少能耗。

一种多通道依次采样电流的延时时间的确定方法，包括以下步骤:

S10. 将待测电子元器件分别设置在第1，2，3，...，n，...，N检测通道中；其中，n为第n个检测通道，N为检测通道数，n≤N；

S20. 设定初始延时时间T₁，将电流采样电路接入第1个检测通道，延时初始延时时间T₁后采样第一电流I₁，断开第1个检测通道；

S30. 等待电流采样电路采样的电流值降为零，记录从断开第1检测通道到电流降为零时所需的时间T₀；

S40. 将电流采样电路接入第2个检测通道，延时初始延时时间T₁后采样第二电流I₂，断开第2个检测通道；