[发明专利]一种电子设备老化的数据校准方法、系统、介质和设备

说明书

本发明适用电子设备检测技术领域，提供了一种电子设备老化的数据校准方法、系统、介质和设备，其中，一种电子设备老化的数据校准方法，包括如下步骤：步骤S100：获取目标对象第i次数据的理论值M_i和实际测量值N_i，并根据第i次数据的理论值M_i和实际测量值N_i之间的差值，所述差值记为第i次数据的修正量L_i；步骤S200：根据目标对象第i次数据的修正量L_i、计算获得对标对象第j次数据的修正量L_j；步骤S300：根据目标对象第j次数据的修正量L_j，计算第j次的理论值M_j。实现了只有需要获得最新目标对象的测量值，即可对未能去现场的数据进行校准，不用停止工作，大大提高了工作效率。

技术领域

本发明涉及电子设备的测量领域，尤其是涉及一种电子设备老化的数据校准方法、系统、介质和设备。

背景技术

随着科技的进步，电子技术飞速发展，电子产品作为系统的核心、重要组成部分广泛应用于航空、航天、船舶、兵器、民用工业等各行各业。同时，随着复杂的使用要求和工况的不断涌现，对电子设备整机的精度和可靠性要求越来越高，需要工作人员不断的测试其性能，保证电子产品的正常运行。

电子设备在使用过程中会随着时间发生老化，为了获得电子设备的老化以及老化的程度，及时对电子设备进行检测，避免影响所在系统的正常工作，此时需要工作人员定期去现场对电子设备进行测量并进行数据的校准。

如专利CN107621279A记载：本发明公开了一种数据处理方法、一种传感器的数据校准方法及装置。通过确定基于待测参数的真值数据以及传感器原始输出数据拟合获得的转换模型。基于转换模型获得传感器原始输出的拟合数据与被测量数据的误差模型。根据误差模型的数据变化趋势确定多个特征误差数据，并基于误差模型确定特征误差数据对应的拟合数据作为特征拟合数据，获得特征拟合数据组。基于转换模型获得拟合数据，查找与所述拟合数据数值相邻的任意两个特征拟合数据。基于任意两个特征拟合数据对应的特征误差数据，计算获得补偿误差，并基于补偿误差及拟合数据，计算获得拟合数据的校准数据。本发明实现了对传感器数据的精确校准，大大降低了传感器的测量误差，提高传感器精度。

当遇到一些不可抗力，如特殊情况时，在需要定期测量的时间段工作人员不能及时去现场，无法及时对数据进行检测和校准，此时，只能使电子设备停止工作，直到工作人员现场来进行测试后再继续工作，不仅需要花费大量的人力，且影响了其所在整个系统的工作效率，造成不必要的损失。

发明内容

本发明的目的是提供一种设备老化的数据校准方法、系统、介质和设备，来解决现有技术中存在的上述技术问题，主要包括以下四个方面：

本发明第一方面提供了一种电子设备老化的数据校准方法，包括如下步骤：