[发明专利]求取用于待借助于磁共振设施记录的测试测量的测试位置在审
申请号: | 202211200348.6 | 申请日: | 2022-09-29 |
公开(公告)号: | CN115877287A | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 马里奥·策勒;亚当·克廷格 | 申请(专利权)人: | 西门子医疗有限公司 |
主分类号: | G01R33/20 | 分类号: | G01R33/20 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 支娜;丁永凡 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 求取 用于 借助于 磁共振 设施 记录 测试 测量 位置 | ||
1.一种用于求取用于待借助于磁共振设施记录的测试测量的至少一个测试位置的方法,所述方法包括如下步骤:
-记录测试图像(B),
-基于所述测试图像(B)选择至少一个测试位置(P,P1,P1',P2)。
2.根据权利要求1所述的方法,
其中将第一测试位置(P1)根据预设的第一测试栅格在所述测试图像(B)中定位。
3.根据权利要求2所述的方法,
其中预设的所述第一测试栅格均匀地覆盖所述测试图像(B)的目标体积。
4.根据上述权利要求中任一项所述的方法,
其中选择所述测试位置(P,P1,P1',P2)包括根据基于所述测试图像(B)在所述测试位置(P,P1,P1',P2)处的强度值的关联函数(M)将所述测试位置(P,P1,P1',P2)与允许的测试位置和禁止的测试位置相关联。
5.根据权利要求4所述的方法,
其中所述关联函数(M)考虑最小强度值。
6.根据上述权利要求中任一项所述的方法,
其中选择测试位置(P,P1,P1',P2)包括根据与所述测试图像(B)在相应的测试位置处的强度值相关的加权因数对测试位置(P,P1,P1',P2)进行加权,其中借助加权因数零的加权对应于禁止所述测试位置(P,P1,P1',P2)。
7.根据权利要求4至6中任一项所述的方法,
其中禁止的测试位置、尤其禁止的第一测试位置(P1)移动到第二测试位置(P2)上,所述第二测试位置(P2)根据所述关联函数(M)与允许的测试位置或禁止的测试位置相关联。
8.根据权利要求7所述的方法,
其中对于所述第一测试栅格的行或列逐行地或逐列地移动第一测试位置(P1)。
9.根据权利要求7所述的方法,
其中各个禁止的第一测试位置(P1)在所述测试图像(B)的至少一个空间方向(x,y)上朝向所述测试图像(B)的图像中心的方向移动到第二测试位置(P2)上,或移动到在所述测试图像(B)中具有期望的强度值的第二测试位置(P2)上。
10.根据上述权利要求中任一项所述的方法,
其中候选测试位置(P0)根据比所述第一测试栅格网孔更密集的预设的第二测试栅格定位,并且根据所述关联函数(M)与允许的测试位置或禁止的测试位置相关联,并且禁止的第一测试位置(P1)移动到允许的候选测试位置(P0)、尤其空间上最近的允许的候选测试位置(P0)上。
11.根据上述权利要求中任一项所述的方法,
其中选择测试位置(P,P1')包括使预设数量的测试位置(P,P1')分布在根据基于所述测试图像(B)的强度值的许可标准(Z)、尤其规定预设的最小强度值的许可标准(Z)所许可的区域(A2')中。
12.根据上述权利要求中任一项所述的方法,
其中为用于补偿在读出时间段期间实际产生的梯度与为所述读出时间段规划的梯度的偏差的影响的方法、尤其为PSF确定来求取所述测试位置。
13.一种磁共振设施(1),所述磁共振设施(1)包括磁体单元(3)、梯度单元(5)、射频单元(7)和控制装置(9),所述控制装置(9)具有射频发送/接收控制装置(7')和测试位置确定单元(15),其中所述控制装置(9)构成用于在所述磁共振设施(1)上执行根据权利要求1至12中任一项所述的方法。
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