[发明专利]一种信号测试及优化装置和方法

说明书

本发明提供了一种信号测试及优化装置和方法，信号测试及优化装置包括信号分配模块、信号优化模块和信号测试模块，信号分配模块用于获取第一信号，对第一信号进行克隆得到第二信号，并将第一信号传输至信号测试模块，将第二信号传输至信号优化模块，信号优化模块用于对第二信号进行优化处理，获得第二信号的优化数据，并将优化处理后的第二信号传输至信号测试模块，信号测试模块用于对第一信号和第二信号进行测试获得测试结果，从而可以在第二信号的测试结果满足要求但第一信号的测试结果不满足要求的情况下，根据第二信号的优化数据对第一信号进行优化，进而可以在获得测试结果的同时获得优化数据，进而可以提高信号的优化效率。

技术领域

本发明涉及信号测试技术领域，具体涉及一种信号测试及优化装置和方法。

背景技术

目前，通常都是通过对电子产品的信号进行完整性测试，来获知电子产品在工作时的信号传输情况，以免信号的过度损耗影响电子产品的工作性能。其中，完整性测试主要是通过对传输到末端的信号进行采样判定，来得出其是否符合相关标准的结果。但是，在得出不符合相关标准的结果之后，若想要对信号进行调整优化，就需要对信号进行多次调整、多次测试和验证，导致信号的优化效率较低。

发明内容

本发明提供一种信号测试及优化装置和方法，以提高信号的优化效率。

第一方面，本发明提供了一种信号测试及优化装置，包括信号分配模块、信号优化模块和信号测试模块，所述信号优化模块与所述信号分配模块连接，所述信号测试模块与所述信号分配模块和所述信号优化模块分别连接；

所述信号分配模块用于获取第一信号，对所述第一信号进行克隆得到第二信号，并将所述第一信号传输至所述信号测试模块，将所述第二信号传输至所述信号优化模块；

所述信号优化模块用于对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据，并将优化处理后的第二信号传输至所述信号测试模块；

所述信号测试模块用于对所述第一信号和所述第二信号进行测试，获得所述第一信号和所述第二信号的测试结果，以在所述第二信号的测试结果满足要求但所述第一信号的测试结果不满足要求的情况下，根据所述第二信号的优化数据对所述第一信号进行优化。

可选地，还包括信号处理模块；所述信号优化模块与所述信号分配模块通过所述信号处理模块连接；

所述信号处理模块用于对所述信号分配模块输出的第二信号进行模拟衰减处理，获得衰减数据，并将模拟衰减处理后的第二信号传输至所述信号优化模块，以使所述信号优化模块对所述第二信号进行优化处理，获得所述第二信号的优化数据以及所述优化数据与所述衰减数据的对应关系，以根据不同的优化数据对具有不同衰减数据的第一信号进行优化，根据所述模拟衰减处理的数据与真实传输链路的衰减数据，对所述真实传输链路的性能进行评估和优化。

可选地，所述信号处理模块包括多个信号干扰单元和/或多个信号损耗单元；

所述信号干扰单元用于通过对所述信号分配模块输出的第二信号施加干扰信号，来对所述第二信号进行模拟衰减处理；

所述信号损耗单元用于通过对所述信号分配模块输出的第二信号施加介质传输损耗，来对所述第二信号进行模拟衰减处理；

其中，不同信号干扰单元施加的干扰信号不同，不同信号损耗单元施加的介质传输损耗不同，以对不同的第二信号进行不同的衰减处理，以获得不同衰减数据及其对应的优化数据。

可选地，所述信号分配模块还用于获取信号生成模块输出的所述第一信号；

所述信号优化模块还用于将所述优化数据反馈至所述信号生成模块；

所述信号测试模块还用于将所述第一信号和所述第二信号的测试结果反馈至所述信号生成模块；