[发明专利]电流采样校正量获得方法、装置及其获得的装置工作方法

权利要求书

1.一种基于霍尔采样芯片的电流采样信号校正量获得方法，其特征在于，包括：

S1:提供开关电源变换装置，将其输入端连接输入电源，启动开关电源变换器；

S2:高精度电流采样设备获取流经待采样器件的交流电流的正半波峰值Ipk+和负半波峰值Ipk-；

S3：自动测试系统接收交流电流的正半波峰值Ipk+和负半波峰值Ipk-；

S4:自动测试系统判断|Ipk+-Ipk-|是否小于阈值，若是进入步骤S8，若否进入S5，其中|Ipk+-Ipk-|为Ipk+与Ipk-的差值的绝对值；

S5:自动测试系统输出校正量Bn，其中|Bn||Bn-1|，其中n为大于等于1的自然数，校正量B0为校正量初始值；

S6:将校正量Bn写入MCU；

S7:MCU根据从霍尔采样芯片接收的输出电压信号和固定电压偏置、以及校正量Bn计算电流采样信号，控制电路接收电流采样信号，输出开关电源变换器内开关管的开关驱动信号，进入步骤S2；

S8:读取MCU中存储的最终的校正量B，将最终的校正量B写入EEPROM，结束。

2.根据权利要求1所述的基于霍尔采样芯片的电流采样信号校正量获得方法，其特征在于，步骤S1中提供的开关电源变换装置包括：

开关电源变换器，包括第一端和第二端，其中第一端用于接收或输出交流信号；

霍尔采样芯片，连接开关电源变换器的第一端的待采样器件，采样流经待采样器件的交流电流信号，并将其转换为输出电压信号，并且输出固定电压偏置；

MCU，接收校正量Bn，并根据输出电压信号、固定电压偏置和校正量输出电流采样信号；

EEPROM，连接MCU，存储最终的校正量B，该最终的校正量B为从MCU中读取的校正量初始值B0或校正量Bn，或为EEPROM中预存的校正量初始值B0；

控制电路接收电流采样信号，输出开关控制信号至开关电源变换器中的开关管。

3.根据权利要求1所述的基于霍尔采样芯片的电流采样信号校正量获得方法，其特征在于，在步骤S8之后还包括：去除高精度电流采样设备和自动测试系统，得到电流采样校正后的开关电源变换装置。

4.根据权利要求1所述的基于霍尔采样芯片的电流采样信号校正量获得方法，其特征在于，步骤S5包括:

S51：自动测试系统判断Ipk+与Ipk-的差值是否大于阈值，若是进入步骤S53，若否进入步骤S52；

S52:自动测试系统输出正校正量Bn，其中BnBn-1，其中n为大于等于1的自然数；

S53:自动测试系统输出负校正量Bn，其中BnBn-1，其中n为大于等于1的自然数。

5.根据权利要求1所述的基于霍尔采样芯片的电流采样信号校正量获得方法，其特征在于，步骤S7中MCU根据从霍尔采样芯片接收的输出电压信号VOUT和固定电压偏置VREF、以及校正量Bn计算电流采样信号，为：MCU根据公式I1＝K*|VOUT–VREF-Bn|计算电流采样信号I1,其中K为电流信号与电压信号的转换系数，|VOUT–VREF-Bn|为VOUT、VREF和Bn三者差的绝对值。

6.根据权利要求1所述的基于霍尔采样芯片的电流采样信号校正量获得方法，其特征在于，高精度电流采样设备为功率计或者功率分析仪。

7.根据权利要求1所述的基于霍尔采样芯片的电流采样信号校正量获得方法，其特征在于，步骤S8中读取MCU中存储的最终的校正量B，将最终的校正量B写入EEPROM，结束，为：

当无需执行步骤S5至步骤S7，写入EEPROM中的最终的校正量B为预存在MCU中的校正量初始值B0，或预存在EEPROM中的校正量初始值B0；

当需执行步骤S5至步骤S7，写入EEPROM中的最终的校正量B为最后一次执行步骤S5至步骤S7时存储在MCU中的校正量Bn。