[发明专利]一种电路参数的校准方法及自动校准设备

说明书

本发明公开了一种电路参数的校准方法及自动校准设备，该方法包括：确定待校准的当前待测设备以及每个当前待测设备的校准类型，根据每个当前待测设备的目标校准类型，确定与每个当前待测设备对应的校准信息，其中，每个当前待测设备的目标校准类型包括校准类型集合中的至少一种校准类型，针对每个当前待测设备，根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准。可见，实施本发明能够对多个待测设备中不同类型的电路参数进行校准，能够有利于提高对电路参数进行校准的效率。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及一种电路参数的校准方法及自动校准设备。

背景技术

随着科学技术的发展，电子产品的种类的数量越来越多，各个类型的电子产品也成为了人们日常生活中不可或缺的一个部分。

在制作电子产品的过程中检测和校准是必不可缺的一个步骤，目前对于电子产品的检测方法通常会因为电子产品中的电器元器件、PCB板、加工工艺等因素的影响，导致采集到的参数与实际所需的参数不符合，从而导致对该电子产品的检测结果有偏差甚至会导致检测结果错误。其次，现在大部分的校准都是通过人工手动对每一台设备进行测试校准，或者通过校准软件对设备进行统一校准之后再由人工进行手动校准，这样的方法不仅耗费大量的人力资源，而且还存在着校准准确性低下以及校准效率低下的问题。可见，如何提供一种新的校准方法以提高校准准确性以及校准效率显得尤为重要。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于，提供一种电路参数的校准方法及自动校准设备，能够通过对多个待测设备中不同类型的电路参数进行校准，能够有利于提高对电路参数进行校准的效率，以及能够有利于提高对电路参数进行校准的准确性。

为了解决上述技术问题，本发明第一方面公开了一种电路参数的校准方法，所述方法包括：

确定待校准的当前待测设备以及每个所述当前待测设备的目标校准类型；

根据每个所述当前待测设备的目标校准类型，确定与每个所述当前待测设备对应的校准信息，其中，每个所述当前待测设备的目标校准类型包括校准类型集合中的至少一种校准类型；

针对每个所述当前待测设备，根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准。

作为一种可选的实施方式，在本发明第一方面中，所述校准类型集合包括输出信号校准类型、自有电路校准类型、输入信号校准类型中的一种或多种。

作为一种可选的实施方式，在本发明第一方面中，针对每个所述当前待测设备，所述根据确定出的该当前待测设备对应的校准信息，对该当前待测设备中的电路参数进行校准，包括：

当该当前待测设备的目标校准类型包括所述输出信号校准类型时，获取该当前待测设备当前输出的第一电路信号；

判断获取到的该当前待测设备当前输出的第一电路信号与该当前待测设备对应的第一校准信息中所包括的第一校准信号是否相匹配，当判断出不相匹配时，分析该当前待测设备当前输出的第一电路信号与所述第一校准信号之间的差异参数，将所述差异参数发送至该当前待测设备，并继续触发执行所述的获取该当前待测设备当前输出的第一电路信号的操作以及继续触发所述的判断获取到的该当前待测设备当前输出的第一电路信号与该当前待测设备对应的第一校准信息中所包括的第一校准信号是否相匹配的操作，直至该当前待测设备当前输出的第一电路信号与所述第一校准信号相匹配或者累计校验参数满足预设校验参数条件；所述差异参数用于触发该当前待测设备执行与所述差异参数相匹配的自调整操作以调整该当前待测设备当前输出的第一电路信号，其中，所述第一校准信息为与所述输出信号校准类型相匹配的校准信息；

当判断出该当前待测设备当前输出的第一电路信号与所述第一校准信号相匹配时，确定针对该当前待测设备中的电路参数执行完毕所述输出信号校准类型对应的校准操作。