[发明专利]由物位测量仪和瞄准器组成的系统和瞄准器

说明书

描述和示出由测量容器中介质的物位的物位测量仪和至少一个瞄准器组成的系统，其中物位测量仪具有产生测量信号的控制和评估单元和工艺连接元件，其中工艺连接元件在介质侧具有透射元件，其中透射元件至少部分地对于测量信号是可通过的。说明由物位测量仪和瞄准器组成的系统，使得可以特别灵活地使用物位测量仪的任务通过以下方式来解决，即至少一个瞄准器与工艺连接元件连接，其中至少一个瞄准器在介质侧具有用于将测量信号耦合输入到容器中的瞄准器透镜，其中瞄准器透镜被构造并且在运行中在测量信号的传播方向上布置在透射元件后面，使得瞄准器透镜改变测量信号的张角。

技术领域

本发明以一种由用于测量容器中介质的物位的物位测量仪和至少一个瞄准器组成的系统为出发点，其中物位测量仪具有用于产生测量信号的控制和评估单元以及工艺连接元件，其中工艺连接元件在介质侧具有透射元件，其中透射元件至少部分地对于测量信号是可通过的。

此外，本发明涉及一种用于连接到物位测量仪上来制造根据本发明的系统的瞄准器。

背景技术

如果说工艺连接元件在介质侧具有透射元件，则这指的是透射元件在运行中或在安装状态下布置在介质侧。

根据一种设计方案，测量信号是雷达信号，并且物位测量仪是自由辐射雷达物位测量仪。测量信号可以在运行中连续地或也以脉冲的方式被发射。

在实践中，可以在不同的状况下使用自由辐射物位测量仪。

根据测量状况，由物位测量仪发出的测量信号的不同特性是有利的。所发出的信号的张角尤其是相关的，所述张角限定为了确定物位所考虑的介质的区域。具有大张角的宽测量信号具有以下优点：检测介质的大的面积来确定物位。另一方面，容器中的在运行中干扰的内装部件也可能容易地干扰测量信号。

因此，如果测量信号具有尽可能小的张角，则由状况决定地同样是有利的。在实践中，例如在细的、高的容器中应用测量信号的这种构造。尤其是发出80 GHz范围内的测量信号的透镜天线可以实现具有几度张角的测量信号。

发明内容

本发明所基于的任务在于，说明一种由物位测量仪和瞄准器组成的系统，使得可以特别灵活地使用物位测量仪。此外，本发明的任务是说明一种用于制造根据本发明的系统的瞄准器。

根据第一教导，先前提到的任务通过开头提到的由物位测量仪和至少一个瞄准器组成的系统通过以下方式解决，即至少一个瞄准器与工艺连接元件连接，其中至少一个瞄准器在介质侧具有用于将测量信号耦合输入到容器中的瞄准器透镜，

其中瞄准器透镜被构造并且在运行中在测量信号的传播方向上布置在透射元件后面，使得所述瞄准器透镜改变测量信号的张角。

例如，瞄准器透镜可以扩张测量信号，即增大张角，或聚焦测量信号，即减小张角。

根据本发明已经认识到，可以通过瞄准器在透射元件之前对测量信号的方向特性或张角发生影响，其中能够通过应用瞄准器使通过物位测量仪实现的方向特性适配于单独的测量状况。由此可以针对不同的测量状况优化具有相同结构的多个物位测量仪或测量仪。

如果瞄准器以可更换的方式、即以可拆卸的方式与物位测量仪连接，则单个物位测量仪也可以与不同的瞄准器组合，并且从而例如即使在装入容器中之后也能够针对不同的测量状况被优化。

因为测量仪可以针对不同的应用被优化，而不必对测量仪进行结构上的改变，因此总体上可以特别灵活地使用根据本发明的系统。

原则上，透射元件和瞄准器透镜彼此协调以成形测量信号。详细地，即使通过组合这些元件也不应该在容器中产生聚焦点，以便完全照明期望的测量区域。