[发明专利]孔隙度测量方法、装置、计算设备及计算机存储介质在审

专利信息
申请号: 202211050991.5 申请日: 2022-08-30
公开(公告)号: CN115327650A 公开(公告)日: 2022-11-11
发明(设计)人: 吕黎明;王振;梁国武;牛德成;周良文;侯振永;张兰兰;石耀;马焕英;吴晓龙 申请(专利权)人: 中海油田服务股份有限公司
主分类号: G01V5/10 分类号: G01V5/10;G01N15/08
代理公司: 北京市浩天知识产权代理事务所(普通合伙) 11276 代理人: 宋菲
地址: 300459 天津市滨*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 孔隙 测量方法 装置 计算 设备 计算机 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种孔隙度测量方法,其特征在于,所述方法包括:

基于脉冲中子发射器发射脉冲中子;

基于远侧伽马探测器和近侧伽马探测器分别探测所述脉冲中子发射器发射的快中子与地层反应后的伽马射线;

根据预先设计的脉冲发射时序和能谱测量时间窗,分别采集非弹性散射总能谱和俘获能谱;

对所述非弹性散射总能谱和所述俘获能谱进行函数计算,得到井径校正后的经远近非弹计数比校正之后的远近俘获计数比LOGNL_BSC;以及

基于所述LOGNL_BSC获取地层热中子弹性散射截面以进行孔隙度定量评价。

2.根据权利要求1所述的孔隙度测量方法,其特征在于,所述根据预先设计的脉冲发射时序和能谱测量时间窗,分别采集非弹性散射总能谱和俘获能谱,进一步包括:

通过所述远侧伽马探测器采集第一非弹性散射总能谱和第一俘获能谱、通过所述近侧伽马探测器采集第二非弹性散射总能谱和第二俘获能谱。

3.根据权利要求2所述的孔隙度测量方法,其特征在于,所述对所述非弹性散射总能谱和所述俘获能谱进行函数计算,得到井径校正后的经远近非弹计数比校正之后的远近俘获计数比LOGNL_BSC,进一步包括:

基于所述第一非弹性散射总能谱和所述第二非弹性散射总能谱,获取远近非弹计数比,并对所述远近非弹计数比取自然对数;

基于所述第一俘获能谱和所述第二俘获能谱,获取远近俘获计数比,并对所述远近俘获计数比取自然对数;

基于取自然对数后的远近非弹计数比、取自然对数后的远近俘获计数比获取经远近非弹计数比校正之后的远近俘获计数比LOGNL;以及

基于井眼结构信息对所述LOGNL进行校正获取井径校正后的经远近非弹计数比校正之后的远近俘获计数比LOGNL_BSC。

4.根据权利要求3所述的孔隙度测量方法,其特征在于,所述基于所述LOGNL_BSC获取地层热中子弹性散射截面以进行孔隙度定量评价,进一步包括:

建立所述LOGNL_BSC与地层热中子弹性散射截面的函数关系;以及

基于所述LOGNL_BSC获取地层热中子弹性散射截面,基于地层岩性剖面信息利用体积模型进行孔隙度定量评价。

5.根据权利要求3所述的孔隙度测量方法,其特征在于,所述基于井眼结构信息对所述LOGNL进行校正以获取井径校正后的经远近非弹计数比校正之后的远近俘获计数比LOGNL_BSC,进一步包括:

LOGNL_BSC=[1-C·(8-BS)]·LOGNL+D·(8-BS)

其中,LOGNL为经远近非弹计数比校正之后的远近俘获计数比,LOGNL_BSC为井径校正后的经远近非弹计数比校正之后的远近俘获计数比,8为标准井眼的尺寸,BS为实际井径,C、D为拟合参数。

6.根据权利要求4所述的孔隙度测量方法,其特征在于,所述基于所述LOGNL_BSC获取地层热中子弹性散射截面,基于地层岩性剖面信息利用体积模型进行孔隙度定量评价,进一步包括:

T=ΦT1+(1-Φ)T2

其中,T1为单位体积水中的热中子弹性散射截面,T2为单位体积岩石的热中子弹性散射截面,T为测量得到的单位体积地层热中子弹性散射截面,Φ为地层孔隙度。

7.根据权利要求1所述的孔隙度测量方法,其特征在于,所述远侧伽马探测器的源距为75.9cm,所述近侧伽马探测器的源距为36.5cm。

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