[发明专利]非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构及其制备方法在审

专利信息
申请号: 202211024380.3 申请日: 2022-08-25
公开(公告)号: CN115290195A 公开(公告)日: 2022-11-04
发明(设计)人: 黄立;王雅琴;叶帆;王春水;高健飞 申请(专利权)人: 武汉高芯科技有限公司
主分类号: G01J5/02 分类号: G01J5/02;B81C1/00
代理公司: 深圳峰诚志合知识产权代理有限公司 44525 代理人: 宋宝焱
地址: 430205 湖北省武*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 制冷 红外探测器 阵列 真空 封装 结构 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构,其特征在于,封装结构包括:

内置读出电路的基板(1);

位于基板(1)上方的探测阵列结构,所述探测阵列结构包括多个像元,每个像元包括支撑锚柱(5)和支撑微桥结构(6),支撑锚柱(5)为空腔结构,空腔内保留有牺牲层材料;

微盖,支撑于探测阵列外侧的基板(1)及支撑锚柱(5)之上,微盖与基板之间形成倒扣微腔,同一探测阵列的多个像元置于同一微腔结构内。

2.根据权利要求1所述的非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构,其特征在于,所述封装结构还包括有位于支撑锚柱(5)和基板(1)之间的连接金属(2)以及设置在基板(1)上表面的吸气剂(3),所述连接金属(2)和所述吸气剂(3)同层布置且采用相同的金属材料。

3.根据权利要求1所述的非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构,其特征在于,所述微盖包括有第一支撑膜层(8)和封孔薄膜(10),所述第一支撑膜层(8)上开设有释放孔(9),封孔薄膜(10)设置在第一支撑膜层(8)的表面对释放孔(9)进行封堵。

4.根据权利要求3所述的非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构,其特征在于,所述微盖还包括有增透膜层(11),所述增透膜层(11)设置在封孔薄膜(10)的上表面和/或第一支撑膜层(8)的下表面。

5.根据权利要求3中任一项所述的非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构,其特征在于,第一支撑膜层(8)的材料选自非晶硅或硅;

和/或第一支撑膜层(8)的厚度为0.5-5微米。

6.如权利要求3所述的非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构,其特征在于:所述封孔薄膜(10)的材料选自锗、非晶硅或硫化锌;

和/或封孔薄膜(10)的厚度为0.5-8微米。

7.如权利要求4所述的非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构,其特征在于:所述增透膜层(11)的材料选自单层锗或单层硫化锌或二者的交替组合。

8.如权利要求3所述的非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构,其特征在于:所述释放孔(9)的孔径为0.3-2微米;

和/或释放孔(9)形状选自直孔、Y型孔或Z型孔。

9.一种非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:

S1.在基板(1)的上表面制备探测阵列结构,探测阵列结构包括多个像元,每个像元包括支撑锚柱(5)和支撑微桥结构(6);

S2.在基板(1)及探测阵列结构的上方制备牺牲层,刻蚀支撑锚柱(5)上方的牺牲层材料,保留支撑锚柱(5)空腔内部的牺牲层材料;

S3.制备微盖,微盖支撑于探测阵列外侧的基板(1)及支撑锚柱(5)之上,微盖与基板之间形成倒扣微腔,同一探测阵列的多个像元置于同一微腔结构内。

10.根据权利要求9所述的非制冷红外探测器的阵列级真空封装结构的制备方法,其特征在于:还包括如下的步骤:

S0.在制备探测阵列结构之前在基板(1)上同步制备连接金属(2)和吸气剂(3)。

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