[发明专利]DOE状态检测方法、装置、电子设备和存储介质

说明书

本申请实施例涉及机器视觉技术领域，公开了一种DOE状态检测方法、装置、电子设备和存储介质，该方法包括：根据预设的GT散斑图中的各级衍射区域对测试散斑图进行衍射级次分割，确定测试散斑图中的各级衍射区域，测试散斑图是基于目标投射模组得到的；分别根据测试散斑图中的各级衍射区域的亮度，确定测试散斑图中的各级衍射区域的衍射效率；根据测试散斑图中的各级衍射区域的衍射效率，确定目标投射模组的DOE的状态，从而提升了DOE状态检测的效率，降低了投射模组的生产成本。

技术领域

本申请实施例涉及机器视觉技术领域，特别涉及一种DOE状态检测方法、装置、电子设备和存储介质。

背景技术

深度感知是机器视觉技术领域研究和应用开发的热点方向，不同于只能获取目标对象的平面信息的2D成像装置，3D成像装置还可以额外获取目标对象的深度信息，构建一个立体的3D模型，因此3D成像装置被广泛地应用于工业测量、安防监控、人脸支付、生物识别等应用场景，基于结构光技术的3D成像装置凭借其高精度的特性更是成为其中的佼佼者，基于结构光技术的3D成像装置的核心部分是结构光投射模组，而结构光投射模组的核心则是光源、准直镜和衍射光学元件(Diffractive Optical Element，简称：DOE)，其中，DOE用于接收经准直镜准直后的光束，将该光束进行分束、重叠处理，以获得分布均匀且不相关的图案光束，DOE直接决定着结构光投射模组所投射的光束的质量。

然而，结构光投射模组在生产、组装的过程中，难免会存在磕碰、挤压、跌落等意外情况，这些意外情况和组装时的应力都可能会导致DOE脱落或破裂，这样的结构光投射模组在后续使用时可能会对人眼造成伤害，但业内常用的无论是在DOE上设置氧化铟锡(IndiumTin Oxide，简称：ITO)走线来监控DOE是否脱落或破裂的技术方案，还是在结构光投射模组中设置导电油墨来监控DOE是否脱落或破裂的技术方案，都会增加整个结构光投射模组的生产成本，并且检测的稳定性差，普适性较低，无法满足生产线对结构光投射模组的快速、高质量生产需求。

发明内容

本申请实施例的目的在于提供一种DOE状态检测方法、装置、电子设备和存储介质，能够高效地实现DOE状态检测，无需增加额外的硬件，降低了结构光投射模组的生产成本，保证生产线对结构光投射模组进行快速的、高质量的生产。

为解决上述技术问题，本申请的实施例提供了一种DOE状态检测方法，包括以下步骤：根据预设的GT散斑图中的各级衍射区域对测试散斑图进行衍射级次分割，确定所述测试散斑图中的各级衍射区域；其中，所述测试散斑图是基于目标投射模组得到的；分别根据所述测试散斑图中的各级衍射区域的亮度，确定所述测试散斑图中的各级衍射区域的衍射效率；根据所述测试散斑图中的各级衍射区域的衍射效率，确定所述目标投射模组的衍射光学元件DOE的状态。

本申请的实施例还提供了一种DOE状态检测装置，包括：获取模块，用于基于目标投射模组得到测试散斑图；衍射级次分割模块，用于根据预设的GT散斑图中的各级衍射区域对所述测试散斑图进行衍射级次分割，确定所述测试散斑图中的各级衍射区域；衍射效率计算模块，用于分别根据所述测试散斑图中的各级衍射区域的亮度，确定所述测试散斑图中的各级衍射区域的衍射效率；执行模块，用于根据所述测试散斑图中的各级衍射区域的衍射效率，确定所述目标投射模组的衍射光学元件DOE的状态。

本申请的实施例还提供了一种电子设备，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行上述的DOE状态检测方法。

本申请的实施例还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的DOE状态检测方法。