[发明专利]一种快速判定紫磷块体晶格方向的方法及其应用

权利要求书

1.一种快速判定紫磷块体晶格方向的方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1在光学显微镜下观察紫磷块体，以紫磷块体垂直边为参考，确定紫磷块体垂直边的方向为紫磷块体单晶垂直链的方向，紫磷块体单晶垂直链的方向为1,1,0方向；

S2对紫磷块体的两个侧面进行打磨抛光得到两组被打磨抛光后的侧面；

S3分别测试两个被被打磨抛光后的侧面的拉曼光谱，获得两组拉曼光谱；

S4对两组拉曼光谱进行对比分析，通过典型Bg拉曼峰的强度对比，确定紫磷块体的晶格方向。

2.根据权利要求1所述的快速判定紫磷块体晶格方向的方法，其特征在于，步骤S1中在光学显微镜下观察紫磷块体的最大面为a-b轴平面，a-b轴平面的垂直边沿着紫磷块体单晶垂直链110方向设置。

3.根据权利要求1所述的快速判定紫磷块体晶格方向的方法，其特征在于，所述紫磷块体的高度沿着层堆叠的方向设置，所述层堆叠的方向为紫磷块体的c轴方向。

4.根据权利要求1所述的快速判定紫磷块体晶格方向的方法，其特征在于，步骤S2对紫磷块体的两个侧面进行打磨抛光包括以下步骤：通过精密研磨抛光系统对紫磷块体的垂直边缘顺时针或逆时针45°方向进行打磨抛光。

5.根据权利要求1所述的快速判定紫磷块体晶格方向的方法，其特征在于，所述拉曼光谱的激光波长为633nm、532nm、785nm或其他激光波长。

6.根据权利要求1所述的快速判定紫磷块体晶格方向的方法，其特征在于，所述典型Bg拉曼峰位于～300cm^-1处。

7.根据权利要求1所述的快速判定紫磷块体晶格方向的方法，其特征在于，步骤S2中的两组被打磨抛光后的侧面呈相对设置，这两组呈相对设置的被打磨抛光后的侧面第一被打磨抛光后的侧面和第二被打磨抛光后的侧面，所述第一被打磨抛光后的侧面对应紫磷块体的晶面是a-c轴平面，所述第二被打磨抛光后的侧面对应的紫磷块体的晶面是b-c轴平面。

8.根据权利要求7所述的快速判定紫磷块体晶格方向的方法，其特征在于，步骤S4中对两组拉曼光谱进行对比分析，通过典型Bg拉曼峰的强度对比,是基于紫磷块体结构空间群为P2/n，点群为C2h(2/m)，根据拉曼背散射理论，当入射光的传播和散射方向为Z时，收集第一被打磨抛光后的侧面的拉曼信号时，紫磷块体只有Ag拉曼峰被检测到，获得第一拉曼光谱；当入射光的传播和散射方向为X时，收集第二被打磨抛光后的侧面的拉曼信号时，紫磷块体的Ag和Bg拉曼峰都能够被检测到，获得第二拉曼光谱。

9.根据权利要求8所述的快速判定紫磷块体晶格方向的方法，其特征在于，所述第一拉曼光谱通过典型Bg拉曼峰的强度对比的拉曼峰强度小于所述第二拉曼光谱通过典型Bg拉曼峰的强度对比的拉曼峰强度，确定紫磷块体晶格方向a轴和b轴。

10.一种快速判定紫磷块体晶格方向的方法在紫磷块体的各向异性电学和光学中的应用。