[发明专利]一种变压器有载分接开关测试仪校准系统

说明书

本发明公开了一种变压器有载分接开关测试仪校准系统，该系统包括电压采样电路、正电压模拟过渡电阻电路、负电压模拟过渡电阻电路和控制器，电压采样电路：采用电阻分压方式采样，由电阻RF1和电阻RF2组成，所述运算放大器A1根据输入正电压采样信号和正电流采样信号，调节Q1的栅极电压，从而调节MOS管两端的电阻。本发明相比现有技术具有以下优点：本申请无论测试信号时直流还是交流，本发明的方法都可以进行校验，可以在一次校验的过程中，同时完成对变压器有载分接开关交流测试仪过渡电阻和过渡时间的校验，本发明可以同时对直流或交流测试仪过渡电阻、过渡时间进行校验，适配更加广泛。

技术领域

本发明涉及变压器有载分接开关测试技术领域，具体涉及一种变压器有载 分接开关测试仪校准系统。

背景技术

长期以来，电力行业现场进行变压器有载分接开关测试一直采用直流方法 试验，所获取的波形与分接开关制造商例行试验波形进行比对，对变压器有载 分接开关现场试验起到了一定作用。由于变压器有载分接开关制造商例行试验 是对裸开关进行试验，现场是变压器带绕组进行的试验，两者差异很大。直流 方法试验受测试技术方法和技术能力限制，现场分接开关测试有时会出现波形 无法判读等问题，各方面工程技术人员争议很大。

现在越来越多的变压器有载分接开关采用交流法试验，试验方法更接近于 变压器有载分接开关实际运行状态，从开关运行状态分析，试验结果更接近于 真实值。

现有的变压器有载分接开关测试仪校验装置都是针对直流测试仪的，在专 利CN201110385901.3、CN200710168532.6、CN200720088602.2中提的校验装置 只适用于校验的变压器有载分接开关直流测试仪的过渡电阻，对于交流的测试 仪不适用。

发明内容

为了解决现有技术中的问题，本发明提供了一种变压器有载分接开关测试 仪校准系统。

本发明是通过以下技术方案解决上述技术问题的，一种变压器有载分接开 关测试仪校准系统，该系统包括电压采样电路、正电压模拟过渡电阻电路、负 电压模拟过渡电阻电路和控制器；

其中，电压采样电路：采用电阻分压方式采样，由电阻RF1和电阻RF2组 成；

所述正电压模拟过渡电阻电路：由运算放大器A1、NMOS管Q1、正电流采样 电阻RS1、运算放大器A3、数模转换器DAC1以及D1二极管组成，所述运算放 大器A1根据输入正电压采样信号和正电流采样信号，调节Q1的栅极电压，从 而调节MOS管两端的电阻；

其中，所述数模转换器DAC1，用于正电压信号反馈大小的控制；

负电压模拟过渡电阻电路：由运算放大器A2、NMOS管Q2、正电流采样电阻 RS2、运算放大器A4、数模转换器DAC2以及D2二极管组成，所述运算放大器 A2根据输入负电压采样信号和负电流采样信号，调节Q2的栅极电压，从而调节 MOS管两端的电阻；

其中，数模转换器DAC2，用于负电压信号反馈大小的控制；

控制器为单片机、ARM或FPGA等器件。

本发明进一步的技术改进在于：所述运算放大器A3用于输入正电流采样信 号的放大，且运算放大器A4用于输入负电流采样信号的放大。

本发明进一步的技术改进在于：所述正电流采样电阻RS1，用于电流采样， 且正电流采样电阻RS2，用于电流采样。

本发明进一步的技术改进在于：当输入为正信号时，所述NMOS管Q1，用于 模拟可变电阻器件，当输入为负信号时，所述NMOS管Q2，用于模拟可变电阻器 件。

本发明进一步的技术改进在于：所述D1二极管，用于截止负电压信号，且D2二极管，用于截止正电压信号。