[发明专利]一种冲击试验残样用于光谱分析的制样方法

说明书

本发明属于金属试样检测技术领域，涉及一种冲击试验残样用于光谱分析的制样方法，当冲击试验后的残样尺寸小于光谱分析仪的激发台孔径时，采用压力机将残样压制成宽度大于激发台孔径的扁试样，并在压制面上焊接手柄，通过握持手柄进行待检测面的打磨。本发明中的采用压制扁试样的方式，克服了冲击试样残样尺寸小不能覆盖光谱分析仪的激发台孔径的问题，同时通过焊接手柄，便于小尺寸试样的打磨，使采用冲击试验残样进行光谱分析得以实现，对检测技术提升、产品工艺研究和质量改进具有实际意义。

技术领域

本发明属于金属试样检测技术领域，涉及一种冲击试验残样用于光谱分析的制样方法。

背景技术

在钢铁领域中，钢铁材料通常要进行冲击试验测定冲击吸收能量来评定材料抗低温冲击韧性的优劣，通过摆锤式冲击试验机将10×10×55mm的标准缺口试样锤击成10×10×27.5mm的2块断裂残样。对于冲击试验残样，通常根据冲击吸收能量的高低进行成分、金相、断口等产品缺陷分析，查找冲击吸收能量不足的原因，采取措施改善产品质量。但经过冲击试验后的冲击试验残样，因残样尺寸为10×10×27.5mm，试样尺寸较小，而QSG750-Ⅱ型直读光谱仪的激发台孔径为12mm，冲击试样无法完全覆盖该激发孔，造成使用冲击试验残样无法在该光谱仪上进行成分校对，不便于产品缺陷分析。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于解决小尺寸试样无法使用光谱分析仪的问题，提供一种冲击试验残样用于光谱分析的制样方法。

为达到上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种冲击试验残样用于光谱分析的制样方法，当冲击试验后的残样尺寸小于光谱分析仪的激发台孔径时，采用压力机将残样压制成宽度大于激发台孔径的扁试样，并在压制面上焊接手柄，通过握持手柄进行待检测面的打磨。

进一步，冲击试验的试样尺寸为10×10×55mm，冲击试验后的试样分为两块残样，残样尺寸为10×10×27.5mm。

进一步，采用YA-1000C电液式压力试验机将10×10×27.5mm残样压制成尺寸大于15×h×27.5mm的扁试样，其中h为压制后的残样高度；其中，光谱分析仪的激发台孔径为12mm。

进一步，在残样的一面焊接一个长度为20～30mm的手柄；采用砂轮机进行待检测面打磨，使其表面符合光谱分析要求。

本发明的有益效果在于：

本发明中的采用压制扁试样的方式，克服了冲击试样残样尺寸小不能覆盖光谱分析仪的激发台孔径的问题，同时通过焊接手柄，便于小尺寸试样的打磨，使采用冲击试验残样进行光谱分析得以实现，对检测技术提升、产品工艺研究和质量改进具有实际意义。

本发明的其他优点、目标和特征在某种程度上将在随后的说明书中进行阐述，并且在某种程度上，基于对下文的考察研究对本领域技术人员而言将是显而易见的，或者可以从本发明的实践中得到教导。本发明的目标和其他优点可以通过下面的说明书来实现和获得。

具体实施方式

以下通过特定的具体实例说明本发明的实施方式，本领域技术人员可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点与功效。本发明还可以通过另外不同的具体实施方式加以实施或应用，本说明书中的各项细节也可以基于不同观点与应用，在没有背离本发明的精神下进行各种修饰或改变。