[发明专利]应用程序崩溃根原因识别方法、装置及电子设备

说明书

本申请属于网络技术与安全领域，涉及应用程序崩溃根原因识别方法、装置及电子设备。该方法包括：获取引起应用程序崩溃的崩溃用例，基于崩溃用例生成多个正测试用例和多个负测试用例；构建与应用程序对应的控制流图，并构建与控制流图中监控点处的变量对应的断言；输入各正测试用例和各负测试用例，以获取变量与各测试用例对应的数据，根据数据计算断言中的参数值，并根据参数值对监控点进行筛选，以获取待选监控点；计算与待选监控点对应的执行等级，根据执行等级对待选监控点进行筛选，以获取指示应用程序崩溃根原因的目标监控点。本申请能够自动化实现精准定位应用程序崩溃根原因，并且可以提供表征崩溃用例的错误行为的上下文信息。

技术领域

本申请涉及网络技术与安全领域，特别涉及一种应用程序崩溃根原因识别方法、应用程序崩溃根原因识别装置、计算机存储介质及电子设备。

背景技术

识别应用程序崩溃的根原因是开发应用程序中的重要一环，同时识别应用程序崩溃的根原因也是一项耗时的工作，相对底层软件故障修改，软件开发过程中开发人员花费了更多的时间用于发现程序崩溃的根本原因。

针对这个问题，业界已经提出了各种依赖于反向执行和反向污染分析等技术的方法。这些技术要么仅限于某些故障类型，要么为分析人员提供修复说明，但没有上下文信息或对潜在故障的解释，只能发现程序崩溃的地方。通常，崩溃的根原因并不位于程序崩溃的地方，它可能在位于程序的执行流程中更早的地方，开发人员需要从崩溃位置向后分析路径以找到根本原因，这需要付出巨大的努力。

需要说明的是，上述背景技术部分公开的信息仅用于加强对本申请的背景的理解。

发明内容

本申请的目的在于提供一种应用程序崩溃根原因识别方法、应用程序崩溃根原因识别装置、计算机存储介质及电子设备，进而至少在一定程度上实现自动分析并识别应用程序崩溃根原因，还可以为分析人员提供有关表征崩溃用例的错误行为的上下文信息。

本申请的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本申请的实践而习得。

根据本申请的第一方面，提供一种应用程序崩溃根原因识别方法，包括：

获取引起应用程序崩溃的崩溃用例，基于所述崩溃用例生成多个正测试用例和多个负测试用例；

构建与所述应用程序对应的控制流图，并构建与所述控制流图中监控点处的变量对应的断言；

输入各所述正测试用例和各所述负测试用例，以获取所述变量与各所述测试用例对应的数据，根据所述数据计算所述断言中的参数值，并根据所述参数值对所述监控点进行筛选，以获取待选监控点；

计算与所述待选监控点对应的执行等级，根据所述执行等级对所述待选监控点进行筛选，以获取指示所述应用程序崩溃根原因的目标监控点。

根据本申请的第二方面，提供一种应用程序崩溃根原因识别装置，包括：

测试用例创建模块，用于获取引起应用程序崩溃的崩溃用例，基于所述崩溃用例生成多个正测试用例和多个负测试用例；

控制流图创建模块，用于构建与所述应用程序对应的控制流图，并构建与所述控制流图中监控点处的变量对应的断言；

第一筛选模块，用于输入各所述正测试用例和各所述负测试用例，以获取所述变量与各所述测试用例对应的数据，根据所述数据计算所述断言中的参数值，并根据所述参数值对所述监控点进行筛选，以获取待选监控点；

第二筛选模块，用于计算与所述待选监控点对应的执行等级，根据所述执行等级对所述待选监控点进行筛选，以获取指示所述应用程序崩溃根原因的目标监控点。

根据本申请的第三方面，提供一种计算机存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现上述的应用程序崩溃根原因识别方法。