[发明专利]红外探测器性能测试方法、装置、设备及可读存储介质

说明书

本发明涉及材料检测技术领域，具体而言，涉及一种红外探测器性能测试方法、装置、设备及可读存储介质，所述方法包括获取第一信息和第二信息，所述第一信息包括红外探测器获取的图像信息，所述第二信息包括所述红外探测器的测量数据信息；将所述第一信息和第二信息发送至指标计算模块进行计算，得到至少一个红外探测器的指标数据平均值；将至少一个所述红外探测器的指标数据平均值发送至关联分析模块进行分析，并基于分析得到的关联度值确定所述红外探测器性能评分，本发明通过对红外探测器性能指标进行检测，可根据自身要求对所述红外探测器判断是否适合，减少成本投入，本方法还可用于辅助学生理解红外探测器特性。

技术领域

本发明涉及性能测试技术领域，具体而言，涉及一种红外探测器性能测试方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

目前一般的红外辐射特性测量设备，体积庞大，精密度高，价格昂贵，均在千万元以上，不能轻易购买，并且对于红外辐射特性测量设备性能检测比较麻烦，所以现需要一种便捷快速对于红外辐射特性测量设备进行测试的方法，来检测红外辐射特性测量设备是否符合要求。

发明内容

本发明的目的在于提供一种红外探测器性能测试方法、装置、设备及可读存储介质，以改善上述问题。为了实现上述目的，本发明采取的技术方案如下：

一方面，本申请提供了一种红外探测器性能测试方法，所述方法包括：

第一信息和第二信息，所述第一信息包括红外探测器获取的图像信息，所述第二信息包括所述红外探测器的测量数据信息；

将所述第一信息和第二信息发送至指标计算模块进行计算，得到至少一个红外探测器的指标数据平均值；

将至少一个所述红外探测器的指标数据平均值发送至关联分析模块进行分析，并基于分析得到的关联度值确定所述红外探测器性能评分。

第二方面，本申请实施例提供了一种红外探测器性能测试装置，所述装置包括：

第一获取单元，用于获取第一信息和第二信息，所述第一信息包括红外探测器获取的图像信息，所述第二信息包括所述红外探测器的测量数据信息；

第一处理单元，用于将所述第一信息和第二信息发送至指标计算模块进行计算，得到至少一个红外探测器的指标数据平均值；

第二处理单元，用于将至少一个所述红外探测器的指标数据平均值发送至关联分析模块进行分析，并基于分析得到的关联度值确定所述红外探测器性能评分。

第三方面，本申请实施例提供了一种红外探测器性能测试设备，所述设备包括存储器和处理器。存储器用于存储计算机程序；处理器用于执行所述计算机程序时实现上述红外探测器性能测试方法的步骤。

第四方面，本申请实施例提供了一种可读存储介质，所述可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述红外探测器性能测试方法的步骤。

本发明的有益效果为：

本发明通过设计一种红外探测器性能测试方法，步骤简单，成本低廉，可用于学校教学，便于学生增强理解，并且本发明通过对红外探测器性能进行检测，基于红外探测器的指标数据给出性能评分，进而可根据自身要求对所述红外探测器判断是否购买，减少成本投入。

本发明的其他特征和优点将在随后的说明书阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明实施例了解。本发明的目的和其他优点可通过在所写的说明书、权利要求书、以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。