[发明专利]坏块筛选方法、装置、设备和存储介质

说明书

本发明实施例公开了一种坏块筛选方法、装置、设备和存储介质，该方法包括：获取当前记录的存储设备中各个数据块的ECC错误比特数以及读取重试次数；根据每个数据块中的ECC错误比特数和读取重试次数，筛选出存储设备中的坏块。本发明实施例将当前记录的数据块的ECC错误比特数和读取重试次数综合作为筛选标准，以此筛选出存储设备中的坏块，从而能够更准确地筛选坏块，避免了坏块遗漏，提高了坏块筛选的准确度。

技术领域

本发明涉及固态硬盘技术领域，尤其涉及一种坏块筛选方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

存储设备作为数据存储的媒介，是计算机系统的重要组成部分。在大数据时代，对存储设备的容量、读写速度、可靠性等提出了越来越高的要求。由于SSD(Solid StateDrives，固态硬盘)具有读写速度快、容量大、抗震防摔、体积小等优势，因此SSD正在成为主流存储设备。NAND(一种闪存芯片材料)闪存是SSD实际的物理存储媒介。NAND闪存的质量直接关乎SSD的性能。

当前，在SSD组装完成之后，对SSD中的NAND闪存的坏块情况进行识别。通过SSD固件筛选出存储问题的NAND闪存，然后上报给系统，通知人员更换SSD中的NAND闪存。比如在固态硬盘的最高工作温度下对固态硬盘进行写数据和读数据操作，并统计读数据的错误比特翻转数，最后根据错误比特翻转数筛选出坏块；然而，仅依靠读数据的错误比特翻转数来判断好块与坏块的方法，容易出现容量偏高，但产品不稳定，存在隐患；又或者存储设备虽然稳定，但存储容量又较低的现象，即误判的块比较多，导致资源浪费等。

综上所述，如何提高固态硬盘的坏块筛选准确率是目前本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

第一方面，本发明提供一种坏块筛选方法，包括：

获取当前记录的存储设备中各个数据块的ECC错误比特数以及读取重试次数；

根据每个所述数据块中的ECC错误比特数和读取重试次数，筛选出所述存储设备中的坏块。

在可选的实施方式中，所述根据每个所述数据块中的ECC错误比特数和读取重试次数，筛选出所述存储设备中的坏块包括：

当所述ECC错误比特数在预设的第一比特数阈值与第二比特数阈值之间，且所述读取重试次数大于预设的重试次数阈值时，确定对应的数据块为坏块；其中，所述第一比特数阈值小于所述第二比特数阈值。

在可选的实施方式中，还包括：

当所述ECC错误比特数大于所述第二比特数阈值，确定对应的数据块为坏块。

在可选的实施方式中，还包括：

当所述读取重试次数大于预设的重试次数阈值时，确定对应的数据块为坏块。

在可选的实施方式中，所述第一比特数阈值为所述第二比特数阈值的40％-60％。

第二方面，本发明提供一种坏块筛选装置，包括：

获取模块，用于获取当前记录的存储设备中各个数据块的ECC错误比特数以及读取重试次数；

筛选模块，用于根据每个所述数据块中的ECC错误比特数和读取重试次数，筛选出所述存储设备中的坏块。

在可选的实施方式中，所述筛选模块用于：

当所述ECC错误比特数在预设的第一比特数阈值与第二比特数阈值之间，且所述读取重试次数大于预设的重试次数阈值时，确定对应的数据块为坏块；其中，所述第一比特数阈值小于所述第二比特数阈值。

第三方面，本发明提供一种存储设备，所述存储设备采用前述任一项所述的坏块筛选方法进行坏块筛选。