[发明专利]一种体绘制方法、系统、装置和存储介质

说明书

本说明书实施例提供一种体绘制方法、系统、装置和存储介质，该方法包括获取目标物体的体数据；基于体数据，确定光线穿过体数据的厚度；基于厚度，确定光线的采样步长；基于采样步长进行采样，确定采样点；对采样点进行合成操作，确定所述光线对应的像素值。

技术领域

本说明书涉及图像处理技术领域，特别涉及一种体绘制方法、系统、装置和存储介质。

背景技术

在图像三维可视化领域，体绘制技术可以提供物体的体数据的内部信息，因此体绘制技术被广泛应用。在医学领域，体绘制技术已经从辅助诊断逐渐变成辅助治疗的重要手段。在医学图像后处理软件，体绘制技术也被广泛应用。主要的体绘制算法包括：光线投射算法(Ray-casting)、错切-变形算法(Shear-warp)、频域体绘制算法(FrequencyDomain)和抛雪球算法(Splatting)等。其中，光线投射算法最为重要和通用。在光线投射算法中，当显示的区域对应的体数据比较薄时，旋转时采样点的变化较大，可能导致绘制出的图像中出现闪烁。在放大较大的画面中，闪烁问题尤为明显。

在现有技术中，通常通过提高全局采样率从而增加采样点的数量，使旋转时的采样点不发生急剧变化，来解决上述闪烁问题。但是这种处理方式对体绘制性能的影响较大。

因此，希望提供一种体绘制方法、系统、装置和存储介质，在使用光线投射算法进行体绘制的过程中，自适应确定每根光线的采样率。相对于现有技术，该方法既可以达到解决闪烁问题的效果，又可以减少对体绘制性能的影响，改善旋转交互时的图像质量。

发明内容

本说明书实施例之一提供一种体绘制方法。所述体绘制方法包括：获取目标物体的体数据；基于所述体数据，确定光线穿过所述体数据的厚度；基于所述厚度，确定所述光线的采样步长；基于所述采样步长进行采样，确定采样点；对所述采样点进行合成操作，确定所述光线对应的像素值。

在一些实施例中，所述基于所述体数据，确定光线穿过所述体数据的厚度包括：基于所述体数据，确定所述体数据的第一表面和第二表面；基于所述第一表面和所述第二表面，确定所述光线穿过所述体数据的所述厚度。

在一些实施例中，所述基于所述厚度，确定所述光线的采样步长包括：判断所述厚度是否小于厚度阈值；若是，则采用小于预设步长的所述采样步长；若否，则采用所述预设步长。

在一些实施例中，所述基于所述厚度，确定所述光线的采样步长包括：基于所述厚度和采样率的映射关系，自适应调整所述光线对应的所述采样率；基于所述采样率，确定所述采样步长。

在一些实施例中，所述厚度至少包括第一区间的厚度、第二区间的厚度，所述采样率至少包括第一采样率、第二采样率，所述厚度和采样率的映射关系包括：所述第一区间的所述厚度对应所述第一采样率、所述第二区间的所述厚度对应所述第二采样率。

在一些实施例中，所述对所述采样点进行合成操作，确定所述光线对应的像素值包括：对所述采样点的体素值进行合成操作，确定在目标图像中所述光线对应的像素的所述像素值；基于所述像素值，确定所述目标图像。

在一些实施例中，所述合成操作包括累加法。

本说明书实施例之一提供一种体绘制系统。所述体绘制系统包括：获取模块，用于获取目标物体的体数据；厚度确定模块，用于基于所述体数据，确定光线穿过所述体数据的厚度；确定模块，用于基于所述厚度，确定所述光线的采样步长；采样模块，用于基于所述采样步长进行采样，确定采样点；合成模块，用于对所述采样点进行合成操作，确定所述光线对应的像素值。

本说明书实施例之一提供一种体绘制装置，所述装置包括至少一个处理器以及至少一个存储器；所述至少一个存储器用于存储计算机指令；所述至少一个处理器用于执行所述计算机指令中的至少部分指令以实现如上述任一实施例所述的体绘制方法。