[发明专利]一种红外成像测温方法、装置、服务端及可读存储介质在审
| 申请号: | 202210750379.2 | 申请日: | 2022-06-29 |
| 公开(公告)号: | CN115112248A | 公开(公告)日: | 2022-09-27 |
| 发明(设计)人: | 姜凯华;李科;朱金华;邵先军;梁云;张永;陶瑞祥;李文嘉;常婧璇;蔡小龙 | 申请(专利权)人: | 天津津航技术物理研究所;国网浙江省电力有限公司电力科学研究院 |
| 主分类号: | G01J5/48 | 分类号: | G01J5/48;G01J5/53;G01J5/80 |
| 代理公司: | 天津市鼎拓知识产权代理有限公司 12233 | 代理人: | 张薇 |
| 地址: | 300000 天津*** | 国省代码: | 天津;12 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 红外 成像 测温 方法 装置 服务端 可读 存储 介质 | ||
本申请提供一种红外成像测温方法、装置、服务端及可读存储介质,其中红外成像测温方法包括:获取红外图像Pk以及拍摄其的镜头温度Tm;根据红外图像Pk,得到红外图像Pk上各像素点的灰度值Ym;将Topitc=Tm,Y=Ym代入至响应模型中,求解得到红外图像Pk各像素点所对应的黑体温度Tb。其中,响应模型通过将多个标定数组分别代入至公式中,求解未知数并将所求解反代至该公式中得到;通过上述方法,使得最终输出的各像素点的灰度值不会受到热像仪工作状态的限制,而通过上述自适应的响应模型得到输出结果,进一步提高了测温精度。
技术领域
本公开一般涉及红外成像技术领域,具体涉及一种红外成像测温方法、装置、服务端及可读存储介质。
背景技术
一切温度高于绝对零度的物体都在不停地向周围空间发出红外辐射能量。红外辐射能量的大小按波长的分布与它的表面温度有着十分密切的关系。因此,通过测量物体自身发出的红外能量,便能准确地测出它的表面温度。红外热像仪根据这一原理,采用非接触方式对物体表面温度进行快速测量,具有响应速度快、灵敏度高、单次测量面积大、测量结果直观的优点,在电力检测、安防监控、疫情防控等领域获得了广泛应用。
但是,由于敏感波段特点以及红外探测器自身性能的限制,红外热像仪的工作状态受环境温度影响较大,其高低温时的响应特性与常温时的响应特性有很大的差异,导致在常温环境标定热像仪数据不能适应宽温度范围工作环境。在数据标定方面,由于成像系统响应的非线性特性,在多温度标定参数间采用线性插值方式,虽然算法简单,但是未能较精确的拟合系统实际响应,也不是最佳的解决方式,不能进一步提升测温精度。
发明内容
鉴于现有技术中的上述缺陷或不足,期望提供一种可解决上述技术问题的一种红外成像测温方法、装置、服务端及可读存储介质。
本申请第一方面提供一种红外成像测温方法,包括以下步骤:
获取红外图像Pk以及拍摄其的镜头温度Tm;
根据所述红外图像Pk,得到所述红外图像Pk上各像素点的灰度值Ym;
将Topitc=Tm,Y=Ym代入至所述响应模型中,求解得到所述红外图像Pk各像素点所对应的黑体温度Tb;
其中,所述响应模型通过将多个标定数组分别代入至公式(一)中,求解未知数并将所求解代入至所述公式(一)中得到;所述标定数组包括黑体温度Tb,对应所述黑体温度Tb下的红外图像的灰度值Y,以及拍摄所述红外图像时的镜头温度Topitc;所述公式(一)为:
根据本申请实施例提供的技术方案,根据所述红外图像Pk各像素点的黑体温度Tb以及灰度值Ym,生成横坐标为灰度值Ym,纵坐标为黑体温度Tb的反演曲线。
根据本申请实施例提供的技术方案,根据所述红外图像Pk,得到所述红外图像Pk上各像素点的灰度值Ym前,还包括:对所述红外图像Pk进行滤波。
根据本申请实施例提供的技术方案,对所述红外图像Pk进行滤波的方法通过以下步骤实现:
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