[发明专利]设备稳定性判断的方法、系统、电子设备和存储介质

说明书

本申请提供了设备稳定性判断的方法、系统、电子设备和存储介质，包括：以预设的环境温度采集频率实时采集预设的环境测温时间段内的环境温度，获取环境温度队列；将所述环境温度队列的最大值与最小值的环境温度差值与预设的环境温度差阈值进行比较；如果所述环境温度差值小于所述环境温度差阈值，则以预设的设备温度采集频率实时采集待判断设备在预设的判断时间段内的焦平面温度，获取焦平面温度队列；获取所述焦平面温度队列的最大值与最小值的焦平面温度差值，以及所述判断时间段内所有焦平面温度的离散率，并根据所述焦平面温度差值和离散率判断所述待判断设备的状态是否稳定。使得对设备稳定性的判断快速、准确。

技术领域

本申请属于温度检测领域，尤其涉及设备稳定性判断的方法、系统、电子设备和存储介质。

背景技术

随着技术的发展，设备也向着小型化、精密化发展。随着设备越来越小，但集成的零配件却越来越多，大量的零配件在运行时会产生大量的热量，而小型化的设备通常其散热能力也较低。大量热量无法及时散发，慢慢聚集将大大增加设备在运行时的温度，而长期处于高温状态的设备将影响该设备的稳定性。

现有技术在判断设备温度时，通常依赖设备外壳的温度，这使得对设备温度的判断往往不够准确，进而影响对设备稳定的判断。

发明内容

本发明实施例的主要目的在于提供设备稳定性判断的方法、系统、电子设备和存储介质，以待判断设备自身的零部件的温度为依据对设备的稳定性进行判断，使得对设备稳定性的判断快速、准确。

第一方面，提供了一种设备稳定性判断的方法，所述方法包括：

以预设的环境温度采集频率实时采集预设的环境测温时间段内的环境温度，获取环境温度队列；

将所述环境温度队列的最大值与最小值的环境温度差值与预设的环境温度差阈值进行比较；

如果所述环境温度差值小于所述环境温度差阈值，则以预设的设备温度采集频率实时采集待判断设备在预设的判断时间段内的焦平面温度，获取焦平面温度队列，所述焦平面温度为所述待判断设备的焦温传感器的温度；

获取所述焦平面温度队列的最大值与最小值的焦平面温度差值，以及所述判断时间段内所有焦平面温度的离散率，并根据所述焦平面温度差值和离散率判断所述待判断设备的状态是否稳定。

在一个可能的实现方式中，在所述将所述环境温度队列的最大值与最小值的环境温度差值与预设的环境温度差阈值进行比较之后，所述方法还包括：

根据时间轴先入先出的原则，对所述环境温度队列进行更新。

在另一个可能的实现方式中，在所述获取所述焦平面温度队列的最大值与最小值的焦平面温度差值，以及所述判断时间段内所有焦平面温度的离散率，并根据所述焦平面温度差值和离散率判断所述待判断设备的状态是否稳定之后，所述方法还包括：

根据时间轴先入先出的原则，对所述焦平面温度队列进行更新。

在另一个可能的实现方式中，所述获取所述焦平面温度队列的最大值与最小值的焦平面温度差值，以及所述判断时间段内所有焦平面温度的离散率，并根据所述焦平面温度差值和离散率判断所述待判断设备的状态是否稳定，包括：

获取所述焦平面温度队列的最大值与最小值的焦平面温度差值，并根据预设的标准差公式获取所述焦平面温度队列的标准差；

将所述焦平面温度差值与预设的焦平面温度差阈值进行比较，并将所述标准差与预设的标准差阈值进行比较；

如果所述焦平面温度差值小于所述焦平面温度差阈值，且所述标准差小于所述标准差阈值，则所述待判断设备处于稳定状态。

第二方面，提供了一种设备稳定性判断的系统，所述系统包括：