[发明专利]一种低噪声放大器测试系统及测试方法有效

专利信息
申请号: 202210738457.7 申请日: 2022-06-28
公开(公告)号: CN114814442B 公开(公告)日: 2022-09-13
发明(设计)人: 刘龙超;雷喻;魏新;孙文政 申请(专利权)人: 北京京瀚禹电子工程技术有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102200 北京市昌平区沙河*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 低噪声放大器 测试 系统 方法
【说明书】:

本申请涉及一种低噪声放大器测试系统,包括可控恒流电源、模块接入装置以及矢量网络分析设备,模块接入装置设有接入槽,矢量网络分析设备用于与接入槽内的测试主体耦接,矢量网络分析设备包括S参数测试模块以及1dB压缩点测试模块,S参数测试模块用于根据模块接入装置中测试主体发出的测试信号得出测试主体的S参数,1dB压缩点测试模块用于根据模块接入装置中测试主体发出的测试信号得出测试主体的1dB压缩点。本申请将低噪声放大器测试简单化,通过矢量网络分析仪对低噪声放大器进行详细的配置,将低噪声放大器测试程序校准完成,并使用恒流源进行驱动电流供电,快速得出低噪声放大器的好坏状态,提高了开发测试效率。

技术领域

本申请涉及微波射频测试技术领域,尤其是涉及一种低噪声放大器测试系统及测试方法。

背景技术

微波射频是当今发展最快的技术领域,小到手机,大到5G通信、军事航空航天等领域都离不开它;微波射频系统也越来越复杂、集成化。随着技术发展,微波射频电路本身也朝着微型化、复杂化、高集成化发展。在微波射频电路研制、生产、应用等各个阶段都要进行反复多次的检验、测试来保证产品质量和可靠性。低噪声放大器测试的目的是保证器件在所允许的条件下(环境应力、电应力)下能完全实现器件规格书所规定的功能和性能,并能检测出故障器件。

对微波射频进行测试时,需要对低噪声放大器进行直流参数测试、射频参数测试和老化测试,需要验证低噪声放大器的各项参数是否符合器件规格书要求。

针对上述中的相关技术,低噪声放大器测试使用的设备多,开发流程复杂、测试复杂,导致测试效率较低,亟待改进。

发明内容

为了提高测试效率,本申请提供一种低噪声放大器测试系统及测试方法。

本申请提供的一种低噪声放大器测试系统采用如下的技术方案:

一种低噪声放大器测试系统,包括可控恒流电源、模块接入装置以及矢量网络分析设备,所述模块接入装置设有供测试主体接入与可控恒流电源电连接的接入槽,所述矢量网络分析设备用于与接入槽内的测试主体耦接,所述矢量网络分析设备包括S参数测试模块以及1dB压缩点测试模块,所述S参数测试模块用于根据模块接入装置中测试主体发出的测试信号得出测试主体的S参数,所述1dB压缩点测试模块用于根据模块接入装置中测试主体发出的测试信号得出测试主体的1dB压缩点。

通过采用上述技术方案,通过设置控恒流电源、模块接入装置以及矢量网络分析设备,人员只需要将低噪声放大器放入接入槽,再将恒流电源以及矢量网络分析设备与低噪声放大器接通,对低噪声放大器进行检测即可,调出矢量网络分析设备内的S参数测试模块以及1dB压缩点测试模块便能测得需要的数据,无需大量设备,较为方便。

优选的,所述模块接入装置包括测试台、抵压机构、测试组件,所述测试组件安装在测试台上,所述接入槽位于测试组件上,所述抵压机构位于接入槽上方用于将测试主体压入接入槽内,所述模块接入装置的电连接端口位于接入槽的底部。

通过采用上述技术方案,抵压机构能够将低噪声放大器下压,使得低噪声放大器的引脚与接入槽中连接端口接触更加紧密。

优选的,所述抵压机构包括竖直滑移设置在测试台上的抵压台、驱动抵压台上下运动的抵压组件。

通过采用上述技术方案,通过抵压组件驱动抵压台上下运动,将低噪声放大器下压。

优选的还包括智能端,所述抵压组件包括受智能端控制的抵压气缸,所述抵压气缸活塞杆底端与抵压台固定连接,所述抵压台的底端设有用于夹持测试主体的夹持机构。

通过采用上述技术方案,抵压气缸主要通过气体控制,其产生的磁干扰较小,使得检测结果更加准确。

优选的,所述模块接入装置设有备用可控恒流电源、备用测试组件以及切换机构,所述切换机构用于对备用可控恒流电源与可控恒流电源对测试主体进行切换以及对备用测试组件与测试组件进行切换。

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