[发明专利]自动测试装置

说明书

本发明公开了一种自动测试装置，包括测试机构、取料及翻转机构和安装机构，所述测试机构包括主传送带、治具回流结构以及多个老化治具，所述主传送带具有进料位和出料位，所述治具回流结构具有进料端和出料端，所述治具回流结构的进料端级联所述主传送带的出料位，所述治具回流结构的出料端级联所述主传送带的进料位，多个所述老化治具与所述主传送带传动连接，每一所述老化治具设有多个测试位；所述取料及翻转机构用于转移待测适配器，并根据所述测试位对所述待测适配器进行角度翻转处理；所述安装机构用于将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位。用于解决通过人工将待测电源适配器插接至老化治具时容易发生位置偏移，测试效率低的问题。

技术领域

本发明涉及电源测试设备技术领域，具体涉及一种自动测试装置。

背景技术

一般地，对电源适配器等电子产品进行老化测试时，需要人工将产品逐一地装入老化治具后再通过传送带传送至预测试工位，以对产品进行性能测试。整个测试流程的执行对人工依赖性较大，不仅需要通过人工将待测适配器逐一地插接至老化治具的测试位以完成AC端的插接，在插接至测试位的同时还需要将带线产品DC端插入每一老化治具，因带线产品组装困难，容易出现挂线，且通过人工将电源适配器插接至老化治具的过程中容易发生位置偏移，测试效率低。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种自动测试装置，用于解决通过人工将待测电源适配器插接至老化治具的过程中容易发生位置偏移，测试效率低的问题。

为实现上述目的，本发明提供了一种自动测试装置，包括：

测试机构，所述测试机构包括主传送带、治具回流结构以及多个老化治具，所述主传送带具有进料位和出料位，所述治具回流结构具有进料端和出料端，所述治具回流结构的进料端级联所述主传送带的出料位，所述治具回流结构的出料端级联所述主传送带的进料位，多个所述老化治具与所述主传送带传动连接，每一所述老化治具设有多个测试位；

取料及翻转机构，用于转移待测适配器，并根据所述测试位对所述待测适配器进行角度翻转处理；

安装机构，用于将所述待测适配器一对一地插接至所述测试位。

在一实施例中，所述治具回流结构还包括：

多个检测组件，每一所述检测组件均沿所述主传送带的传送方向设置，用于检测所述老化治具的位置；

多个第一阻挡结构，多个所述第一阻挡结构沿所述主传送带的传送方向间隔设置，用于在检测到所述老化治具时阻挡所述老化治具。

在一实施例中，所述主传送带还设有第一阻挡开关，所述第一阻挡开关有多个，多个所述第一阻挡结构分为多个阻挡组，每一所述阻挡组包括至少一个第一阻挡结构，多个所述阻挡开关与多个阻挡组一对一地连接，每一所述阻挡开关用于控制对应连接的所述阻挡组的工作，以放行所述老化治具。

在一实施例中，所述主传送带还设有多个第二阻挡结构，每一所述第二阻挡结构设于任意相邻的两个第一阻挡结构之间。

在一实施例中，所述治具回流结构包括回流传送带、第一升降组件和第二升降组件，所述回流传送带与所述主传送带的传送方向相反，所述主传送带的进料位级联所述第一升降组件，所述主传送带的出料位级联所述第二升降组件，所述回流传送带具有进料位和出料位，所述回流传送带的进料位级联所述第二升降组件，所述回流传送带的出料位级联所述第一升降组件。

在一实施例中，所述自动测试装置还包括中转机构，所述中转机构安装于所述取料及翻转机构与所述安装机构之间，所述中转机构包括传动组件和中转工位，所述传动组件沿其传送方向具有相对的起始位置和待测位置，所述起始位置邻接所述取料及翻转机构，所述待测位置邻接所述安装机构，所述中转工位设于所述传动组件的传送路径上，用于在所述取料及翻转机构与所述安装机构之间来回移动。