[发明专利]一种储层孔喉半径分布谱获取方法与系统在审

专利信息
申请号: 202210695704.X 申请日: 2022-06-20
公开(公告)号: CN115096788A 公开(公告)日: 2022-09-23
发明(设计)人: 肖亮;胡婷婷;周金昱;李高仁;董雪梅;李静;贾春明;王长胜 申请(专利权)人: 中国地质大学(北京)
主分类号: G01N15/08 分类号: G01N15/08
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 张丽;姚亮
地址: 100083*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 储层孔喉 半径 分布 获取 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种储层孔喉半径分布谱获取方法,其中,该方法包括:

获取目标储层的孔隙度曲线即孔隙度随深度变化的曲线;

确定布点方式,进而确定出N个孔喉半径;

获取额定孔喉半径的频率与孔隙度的关系模型,和N个孔喉半径的频率之间的关系模型;其中,额定孔喉半径为所述N个孔喉半径中的一个;

基于目标储层的孔隙度曲线,利用所述额定孔喉半径的频率与孔隙度的关系模型,和N个孔喉半径的频率之间的关系模型,确定目标储层各深度处的N个孔喉半径的频率,从而确定目标储层各深度处的孔喉半径分布谱。

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述确定出的N个孔喉半径为:

式中,Rc(i)为第i个孔喉半径,μm;N大于等于13;

优选地,N为13-48;

优选地,所述额定孔喉半径为i=11、12、13、14、或15时的孔喉半径。

3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,所述额定孔喉半径为0.14μm-0.009μm。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,

所述额定孔喉半径的频率与孔隙度的关系模型为:

式中,amp(E)为额定孔喉半径的频率,%;为孔隙度,%;A’、B’和C’为系数;

所述N个孔喉半径的频率之间的关系模型为:

式中,amp(i)为第i个孔喉半径的频率;a(i)、b(i)和c(i)为系数;E为额定孔喉半径对应的i值。

5.根据权利要求1或4所述的方法,其中,所述获取额定孔喉半径的频率与孔隙度的关系模型,和N个孔喉半径的频率之间的关系模型包括:

获取模型标定用岩心的孔隙度;

获取模型标定用岩心的压汞实验数据;

基于模型标定用岩心的压汞实验数据,分别确定各岩心的所述N个孔喉半径对应的频率;

基于各岩心的孔隙度和各岩心的所述N个孔喉半径对应的频率,确定额定孔喉半径的频率与孔隙度的关系模型;

基于各岩心的所述N个孔喉半径对应的频率,确定N个孔喉半径的频率之间的关系模型;

优选地,基于各岩心的孔隙度和各岩心的所述N个孔喉半径对应的频率,确定额定孔喉半径的频率与孔隙度的关系模型包括:

基于各岩心的孔隙度和各岩心的所述N个孔喉半径对应的频率,分别确定各孔喉半径的频率与孔隙度的关系模型;

在各孔喉半径的频率与孔隙度的关系模型中,选择相关性最好的一个模型作为额定孔喉半径的频率与孔隙度的关系模型;其中该模型对应的孔喉半径即为额定孔喉半径;

优选地,基于模型标定用岩心的压汞实验数据,分别确定各岩心的所述N个孔喉半径对应的频率通过下述公式实现:

amp(1)=SHg(1)

amp(i)=SHg(i)-SHg(i-1),i=2,3,…,N

式中,SHg(i)为第i个孔喉半径对应的进汞压力所对应的进汞饱和度,%;amp(i)为第i个孔喉半径的频率;

优选地,所述获取模型标定用岩心的压汞实验数据包括:

基于N个孔喉半径,分别确定N个孔喉半径对应的进汞压力;

基于N个孔喉半径对应的进汞压力,分别对各岩心进行压汞实验,获取各进汞压力对应的进汞饱和度。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述确定目标储层各深度处的孔喉半径分布谱包括:

对于目标储层各深度,分别以N个孔喉半径为对数横坐标,以N个孔喉半径的频率为线性纵坐标绘图,得到目标储层该深度处的孔喉半径分布谱。

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