[发明专利]光纤复合绝缘子及光学电流测量装置在审
申请号: | 202210684995.2 | 申请日: | 2022-06-15 |
公开(公告)号: | CN115050525A | 公开(公告)日: | 2022-09-13 |
发明(设计)人: | 韦晓星;夏谷林;崔彦捷;卢文浩;肖翔;张良 | 申请(专利权)人: | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 |
主分类号: | H01B17/28 | 分类号: | H01B17/28;H01B17/40;G01R19/00 |
代理公司: | 华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人: | 周旋 |
地址: | 510663 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光纤 复合 绝缘子 光学 电流 测量 装置 | ||
本发明涉及一种光纤复合绝缘子及光学电流测量装置。所述光纤复合绝缘子包括:绝缘子本体,所述绝缘子本体包括芯棒和包覆在所述芯棒上的护套;两个连接件,两个所述连接件分别设于所述芯棒沿所述纵长方向上的两端;以及两个电容芯体,两个所述电容芯体分别嵌设于所述芯棒的两端;其中,平行于所述纵长方向的平面为参考平面;位于所述绝缘子本体的同一端的所述连接件和所述电容芯体在所述参考平面上的正投影具有重叠部分。采用本光纤复合绝缘子能够减少电流测量光纤的损坏。
技术领域
本发明涉及光学电流测量装置技术领域,特别是涉及一种光纤复合绝缘子及光学电流测量装置。
背景技术
光学电流测量装置主要由光纤电流传感环、光纤复合绝缘子及采集单元三部分构成。利用光学电流测量装置测量被测电流时光纤复合绝缘子高压端和低压端容易出现放电烧蚀现象,导致光纤复合绝缘子内的电流测量光纤受损。
发明内容
基于此,有必要提供一种光纤复合绝缘子及光学电流测量装置,以避免测量电流时损坏光纤。
第一方面,本发明实施例提供了一种光纤复合绝缘子,包括:
绝缘子本体,所述绝缘子本体包括芯棒和包覆在所述芯棒上的护套;
两个连接件,两个所述连接件分别设于所述芯棒沿所述纵长方向上的两端;以及
两个电容芯体,两个所述电容芯体分别嵌设于所述芯棒的两端;
其中,平行于所述纵长方向的平面为参考平面;
位于所述绝缘子本体的同一端的所述连接件和所述电容芯体在所述参考平面上的正投影具有重叠部分。
在其中一个实施例中,所述电容芯体具有沿所述纵长方向上的轴向中心,经过所述轴向中心且与所述纵长方向垂直的平面为第一平面;
与所述电容芯体位于所述绝缘子本体的同一端的所述连接件,具有朝向另一所述连接件的第一表面;
其中,所述第一平面与所述第一表面彼此重合。
在其中一个实施例中,所述电容芯体沿所述纵长方向上的尺寸为L1,所述连接件沿所述纵长方向上的尺寸为L2;
其中,L1与L2的比值为1-1.5。
在其中一个实施例中,所述芯棒沿所述纵长方向设有用于供光纤穿过的第一通孔,所述电容芯体沿所述纵长方向设有用于供从所述第一通孔穿出的光纤穿过的第二通孔;
第一通孔的孔径为d1,第二通孔的孔径为d2;
其中,d2与d1的比值小于0.5。
在其中一个实施例中,所述芯棒的两端设有限位槽,所述限位槽具有一限位面,所述限位面用于在所述纵长方向上对所述电容芯体限位;
所述电容芯体具有与所述限位面相配合的抵接面;
在所述电容芯体抵接于所述芯棒的对应端时,所述电容芯体伸入所述限位槽,所述抵接面贴合于所述限位面。
在其中一个实施例中,所述电容芯体上沿所述纵长方向的两侧设有台阶部;
所述抵接面形成于所述台阶部。
在其中一个实施例中,所述电容芯体由交替设置的铝箔层和皱纹纸层卷绕形成;
所述铝箔层内设有至少一层铝箔,所述皱纹纸层内设有至少一层皱纹纸。
在其中一个实施例中,所述电容芯体借助于环氧树脂浇注固化的方式形成。
在其中一个实施例中,所述电容芯体包括沿纵长方向依次连接的第一芯体部、第二芯体部和第三芯体部;
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